Gebraucht ASML YieldStar S100B #293641963 zu verkaufen

ASML YieldStar S100B
ID: 293641963
Overlay measurement system.
ASML YieldStar S100B ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung elektrischer, physikalischer und chemischer Eigenschaften am Produkt. Es wird verwendet, um Probleme im Produktionsprozess zu identifizieren und zu beheben, Siliziumscheiben in Echtzeit zu analysieren und zu optimieren und Konstruktionsänderungen zu ermöglichen, ohne dass der Wafer neu hergestellt werden muss. Das System verfügt über erweiterte Hardware- und Softwarefunktionen, einschließlich berührungsloser optischer und Lasersensoren, dreidimensionaler Abtastung und messtechnischer Messsysteme mit hoher Genauigkeit. YieldStar S100B ist in der Lage, hochauflösende Bilder der Waferoberfläche zu erfassen, elektrische Parameter einschließlich Widerstand und Kapazität sowie mechanische Eigenschaften wie Dicke und Beanspruchung zu messen. ASML YieldStar S100B verfügt zudem über eine integrierte Fehleranalyse und Fehlerklassifizierung zur Identifizierung von Fehlerquellen in Produktionsprozessen. Dies ermöglicht eine effektive Lieferantenqualitätskontrolle sowie Prozessverbesserungen, die zu einer erhöhten Waferausbeute führen können. Das Gerät verfügt über eine Vielzahl benutzerfreundlicher grafischer Benutzeroberflächen, die das Scannen und Analysieren großer Bereiche schnell und einfach erleichtern. Es kann entweder in einer lokalen oder Remote-Konfiguration verwendet werden, und seine Portabilität ermöglicht die einfache Verlagerung zwischen Messlabors und Reinraumumgebungen. YieldStar S100B ist ideal für Laboratorien, Produktionslinien und die Herstellung von Halbleiterbauelementen, da es auf die anspruchsvollen Anforderungen der Volumeninspektion und Prozessoptimierung ausgerichtet ist. Mit branchenführender Genauigkeit und Geschwindigkeit ist die Maschine eine kostengünstige und zuverlässige Wahl für Prüf- und Messtechnik-Abteilungen.
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