Gebraucht ASML YieldStar S200 #9193316 zu verkaufen

ASML YieldStar S200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Überwachung des Prozesses der Herstellung und Herstellung von Halbleiterchips. Dieses System prüft Wafer, erkennt Fehler und kann bestimmte Eigenschaften von Wafer-Merkmalen messen. Es ermöglicht die Analyse und Verfolgung von Wafern während des gesamten Produktionsprozesses, um sicherzustellen, dass sie die gewünschten Spezifikationen erfüllen. Das Gerät ist für die vollständige Prozesskontrolle konzipiert und bietet eine vollständige Messtechnik auf Waferebene für verbesserte Ausbeute und Produktqualität. Es umfasst ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) und mehrere andere Komponenten für quantitative Untersuchungen von Waferdefekten und -formen. Seine bewährte automatisierte Maschine bietet die höchste verfügbare Bildqualität für zuverlässige quantitative Analysen von Wafermustern. Das Werkzeug verfügt über eine extrem empfindliche bildgebende Komponente, die es ermöglicht, extrem kleine Defekte in jeder gewünschten Fokustiefe zu erkennen. ASML YIELDSTAR S 200 bietet Wafertests und Messtechnik mit hohem Durchsatz. Es bietet eine automatisierte Analyse kleiner Funktionsfehler, die eine effiziente Fehlererkennung und -überprüfung ermöglicht. Das Modell ermöglicht auch den einfachen Export von Daten, um eine weitere Analyse zu ermöglichen. Dieses Gerät bietet auch leistungsstarke Daten-Signal-Analysefunktionen, die hochgenaue Messungen an dichten und komplexen Mustern ermöglichen. Das System verfügt über eine erweiterte grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht eine schnelle Anzeige der Mikroskopbilder. Die Betriebsparameter für das Gerät können auf dieser Schnittstelle einfach eingestellt werden. Darüber hinaus bietet es detaillierte Berichte, die Informationen einschließlich der durchschnittlichen Analysegeschwindigkeit, der Genauigkeit der Messungen und der Fehlerbewertung anzeigen. YieldStar S200 ist mit 200 und 300mm Wafern kompatibel und somit ideal für die Produktion von Geräten mit unterschiedlichen Funktionsgrößen. Es ist mit robusten Bauteilen ausgelegt, die Prozessstabilität auch über lange Produktionsläufe ermöglichen. Diese Maschine verwendet dynamische Geräuschkontrolltechnologie, um den Geräuschpegel der SEM-Bildgebung während der Produktion zu reduzieren. Dadurch wird auch der Zeitaufwand für die Verarbeitung von Terabyte an Daten reduziert. Insgesamt ist YIELDSTAR S 200 ein führendes Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug. Seine Fähigkeit, Wafer über den Produktionsprozess zu analysieren und zu verfolgen, stellt sicher, dass sie die gewünschten Spezifikationen erfüllen. Es bietet Wafer-Tests und Messtechnik mit hohem Durchsatz, robuste Komponenten und überlegene Fehlererkennungsfunktionen. Diese Anlage ist ideal für die Produktion von Geräten mit unterschiedlichen Funktionsgrößen und gewährleistet Prozessstabilität mit dynamischer Geräuschkontrolltechnik.