Gebraucht ASML YieldStar S200B #293655834 zu verkaufen

ASML YieldStar S200B ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung von ASML, einem Marktführer in der Halbleiterindustrie. Das System ist speziell für Gerätehersteller und Subfab-Prozesscharakterisierung konzipiert, um Erträge zu optimieren, Kosten zu senken und die Leistung der neuesten Halbleiterdesigns zu steigern. Das Gerät ermöglicht eine schnelle Raumtemperaturprüfung von Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm mit einer hohen Präzision und Wiederholbarkeit, sodass Benutzer ihre Prozesskontrollparameter anpassen können, um optimale Ergebnisse zu erzielen. YieldStar S200B verfügt über eine zuverlässige 200 mm x 200 mm Optik-Staging-Tabelle und einen erweiterten Scanalgorithmus für die Wafer-Messtechnik. Diese Maschine wird auch mit einem hochpräzisen Verschlussrad und einer fortschrittlichen Optik geliefert, um die Kantendicke und das Durchschnittsprofil eines Halbleiterwafers genau zu messen. Die hochgenaue Bewegungssteuerungsstufe mit wiederholbarer Genauigkeit innerhalb von 1µm/Minute ermöglicht einen präzisen Betrieb in Submikron-Waferprozessen. ASML YieldStar S200B verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche zur optimalen Steuerung und Überwachung der Prozessleistung. Das Tool kann mit verschiedenen bildgebenden Technologien verwendet werden und umfasst eine breite Palette von Kalibriermodellen, die eine Anpassung an die Anwendungsbedürfnisse des Benutzers ermöglichen. Die umfassende AlignCam-Software sorgt für weitere Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Leistungsfähigkeit der messtechnischen Anlage. YieldStar S200B ist eine ausgezeichnete Wahl für Wafer-Tests und Messtechnik, da es schnell winzige Änderungen in der Verbindungshöhe und Oberflächenrauhigkeit von Wafern erkennen kann. Die Kombination aus Genauigkeit, Vielseitigkeit und Wiederholbarkeit macht ASML YieldStar S200B eine attraktive Wahl für die Montage und Integration der heutigen integrierten Schaltungen mit hoher Dichte. Das Modell beschleunigt nachweislich den Produktionszyklus, verbessert die Signalintegrität und erhöht die allgemeine Zuverlässigkeit des Prozesses.