Gebraucht ATI WIND AWIS-1200 #293654341 zu verkaufen

ATI WIND AWIS-1200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Erkennung und Messung von Halbleiterstrukturen, Mustern und Defekten von Wafern bis 300mm Größe entwickelt wurde. Es hat eine bewährte Zuverlässigkeit für die Erkennung von Defekten und die Messung der Größe, Form und Struktur der Teile unter jeder Art von Umweltbedingung. Der AWIS- 1200 verfügt über einen 12Mega Pixel CMOS-Sensor, RealTime Digital Signal Processing, High Speed Image Acquisition, digitale Bildsignalverarbeitung und ein 3-stufiges intelligentes Inspektionssystem. Der 12 Mega Pixel CMOS Sensor ermöglicht hochauflösende Bilder und erfasst detaillierte Muster auf dem Wafer mit hoher Geschwindigkeit. Die RealTime Digital Signal Processing hilft, optische Rauschen, Banding und andere Arten von Aberrationen zu reduzieren. Dies ist möglich, da verschiedene Signalverarbeitungsfunktionen in einen einzigen Chip mit hochintegriertem Leitungs- und Pixelpuffer integriert sind. Zu den Vorteilen der digitalen Bildsignalverarbeitung gehören die automatische Verstärkungs- und automatische Verschlusskontrolle, die Ungleichmäßigkeitskorrektur der Pixelantwort und die Gammakorrektur. Diese helfen, die Bildqualität zu verbessern und die Inspektionszeit deutlich zu reduzieren. Das AWIS-1200 ist in der Lage, die Breiten und Längen von Submikron-Mustern mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit zu messen. Dies geschieht durch seine 3-stufige Inspektionseinheit, die aus Mikroskop, Interferometer, Ellipsometer und Spektrometer besteht. Das Mikroskop dient zur Beurteilung allgemeiner Oberflächen, des Interferometers zur Messung hochpräziser Merkmale, des Ellipsometers zur Messung von Oberflächentopographien und Dünnfilmen sowie des Spektrometers zur optischen Analyse von Materialien. Dies ermöglicht eine genaue Beurteilung der Teile und ermöglicht es der Maschine, Arten von Defekten am Wafer wie Gruben, Gräben, Stufen und andere Defekte zu identifizieren. Das AWIS-1200 verfügt über eine intuitive und benutzerfreundliche Oberfläche und eine hochentwickelte Software zur Steuerung und Analyse von Messungen. Die Software ist speziell für das mitgelieferte Mikroskop, Interferometer, Spektrometer und Ellipsometer konzipiert. Es eignet sich sowohl für fortgeschrittene als auch für Anfänger und ist in der Lage, die Eigenschaften selbst komplexester Strukturen schnell und genau zu messen. Die Software ermöglicht auch eine automatisierte Datenerfassung und -verarbeitung, wodurch die Effizienz und Genauigkeit der Messungen verbessert wird. Insgesamt ist WIND AWIS-1200 ein ausgezeichnetes Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das eine hochpräzise Analyse und Fehlererkennung von Wafern bis zu einer Größe von 300 mm ermöglicht. Dank seiner fortschrittlichen Eigenschaften und Flexibilität ist es eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.