Gebraucht AXIC 100 II #62113 zu verkaufen

AXIC 100 II ist eine fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Ausrüstung, die leistungsstarke On-Wafer-Testfunktionen bietet. Dieses System bietet mit seiner leistungsstarken Sondierungs- und Messtechnologie hochpräzise, präzise und zuverlässige Messungen sowohl elektrischer als auch physikalischer Parameter, so dass Anwender die bestmöglichen Ergebnisse erzielen können. Es eignet sich gut für verschiedene Arten von Wafertests, wie Wafer-Mapping, Fehlermessungen und Gerätecharakterisierung, sodass Anwender zuverlässige und effiziente Produkte entwickeln können. 100 II bietet mit seinem integrierten TruSem-Modul, das über einen hochauflösenden 3D-Profilscanner und eine vollautomatisierte lokale Messtechnik verfügt, genaue und schnelle Messungen verschiedener Parameter. Der TruSem ermöglicht es dem Anwender, kritische physikalische Eigenschaften wie Oberflächenrauhigkeit, Ätztiefe, Steigung und Entlastung leicht zu messen. Diese Maschine enthält auch eine robuste Suite fortschrittlicher Software-Tools, mit denen der Benutzer komplexe Profile erstellen und detailliertere Messungen durchführen kann. AXIC 100 II enthält auch eine integrierte parametrische Sondierungsplattform, die ein ultraempfindliches Kapazitätsmaß und schnelle Kelvin-Testfunktionen bietet. Dadurch kann der Benutzer die physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Materialien und Geräten genau, schnell und einfach messen. Das Tool ist auch mit einer fortschrittlichen Die-to-Die-Overlay-Technologie ausgestattet, die die Überlagerungsleistung des Geräts optimiert. Die benutzerfreundliche und intuitive Softwareumgebung ermöglicht es Anwendern, das Asset einfach zu konfigurieren und schnellere und genaue Ergebnisse zu erzielen. Darüber hinaus ist die grafische Oberfläche von 100 II gut übernommen und macht das Modell für Benutzer sehr einfach zu navigieren. Mit seiner leistungsstarken Kombination aus fortschrittlichen Technologien und zuverlässiger Leistung ist AXIC 100 II eine gute Wahl für alle Anforderungen an Wafertests und Messtechnik.