Gebraucht BROWN & SHARPE Global Classic 7107 #293822946 zu verkaufen
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ID: 293822946
Weinlese: 2007
Coordinate measuring machine
TESASTAR-i Manual indexing probe head
Computer
Monitor
Spare miscellaneous stylus
Calibration sphere
Operator hand pendant
X-Axis: 27.6" (700 mm)
Y-Axis: 39.4" (1000 mm)
Z-Axis: 26.0" (660 mm)
Max table capacity: 2,000 LBS
2007 vintage.
BROWN&SHARPE Global Classic 7107 ist eine moderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die in der Halbleiterindustrie neue Maßstäbe in Präzision, Genauigkeit und Effizienz setzt. Dieses fortschrittliche System kombiniert modernste Technologie mit benutzerfreundlichen Funktionen, um umfassende Test- und Messfunktionen für Halbleiterwafer bereitzustellen. Herzstück der Global Classic 7107 ist die hochpräzise Positionierstufe, die präzise und wiederholbare Messungen von Wafereigenschaften gewährleistet. Die Maschine verfügt über eine anspruchsvolle Luftlagerstufe, die eine reibungslose und präzise Bewegung des im Test befindlichen Wafers ermöglicht, Vibrationen minimiert und konsistente Ergebnisse gewährleistet. Diese hochpräzise Stufe ist in der Lage, Wafer verschiedener Größen zu handhaben, wodurch das Werkzeug vielseitig einsetzbar und an unterschiedliche Produktionsanforderungen anpassbar ist. BROWN&SHARPE Global Classic 7107 ist mit fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen ausgestattet, die eine detaillierte Inspektion und Messung der Waferfunktionen ermöglichen. Das Modell verfügt über eine hochauflösende Digitalkamera und erweiterte Bildverarbeitungsalgorithmen, die eine präzise Messung kritischer Merkmale wie Linienbreiten, Abstand und Defekte ermöglichen. Die intuitive Software-Oberfläche des Geräts bietet Anwendern visuelles Feedback in Echtzeit und Analysetools, die eine schnelle und genaue Interpretation der Messergebnisse ermöglichen. Das Global Classic 7107 System ist neben seinen bildgebenden Fähigkeiten mit einer Reihe von messtechnischen Werkzeugen für umfassende Wafertests ausgestattet. Das Gerät verfügt über fortschrittliche optische Sensoren zur Messung kritischer Abmessungen wie Dicke, Rauheit und Ebenheit von Wafern. Diese Sensoren bieten hochgenaue Messungen mit minimalem Kontakt, wodurch das Risiko von Schäden an empfindlichen Waferoberflächen reduziert wird. BROWN&SHARPE Global Classic 7107 Maschine ist für Wafer-Testanwendungen mit hohem Durchsatz konzipiert, mit schnellen und effizienten Messzyklen, die Produktionsausfallzeiten minimieren. Die automatisierten Handhabungsfunktionen des Werkzeugs, einschließlich des Be- und Entladens von Roboterscheiben, sorgen für einen nahtlosen Betrieb und maximale Produktivität. Das Asset verfügt außerdem über erweiterte Funktionen zur Datenprotokollierung und -analyse, mit denen Benutzer Wafermessungen im Laufe der Zeit zur Prozessoptimierung und Qualitätskontrolle verfolgen und analysieren können. Einer der Hauptvorteile des Modells Global Classic 7107 ist seine Flexibilität und Skalierbarkeit. Die Ausrüstung ist leicht anpassbar, um spezifische Produktionsanforderungen zu erfüllen, mit Optionen für zusätzliche Messsensoren, Automatisierungsfunktionen und Integration mit anderen Fertigungsanlagen. Diese Flexibilität ermöglicht es Halbleiterherstellern, das System an sich entwickelnde Produktionsanforderungen anzupassen und einen Wettbewerbsvorteil in der Branche zu erhalten. Insgesamt stellt BROWN&SHARPE Global Classic 7107 eine signifikante Weiterentwicklung in der Wafertest- und Messtechnologie dar und bietet unübertroffene Präzision, Genauigkeit und Effizienz für die Halbleiterproduktion. Mit seinen modernsten Funktionen, der benutzerfreundlichen Oberfläche und den Hochdurchsatzfunktionen ist diese Maschine bestrebt, Wafer-Testprozesse zu revolutionieren und Innovationen in der Halbleiterindustrie voranzutreiben.
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