Gebraucht BRUKER-AXS Dektak XT #9204115 zu verkaufen

BRUKER-AXS Dektak XT ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik für eine Vielzahl von Anwendungen. Das System ist in der Lage, Wafer von 2 „bis 8“ auf ihre Dicke, Glätte, Rauheit, Leitfähigkeit, dielektrischen Durchbruch und andere Oberflächenmessungen zu analysieren. BRUKER-AXS DEKTAKXT nutzt eine automatisierte Plattform, die einen patentierten Constant Force Mode bietet, der konsistente und wiederholbare Messungen innerhalb von 0,25% der Zielkraft gewährleistet. Die integrierte Vision-Einheit inspiziert den Wafer, um sicherzustellen, dass er vor und nach der Analyse auf dem Niveau ist und die Genauigkeit der Ergebnisse gewährleistet. Die Maschine kann mit einer Vielzahl von Optionen konfiguriert werden, einschließlich eines optischen Mikroskops, automatisierter Wafer-Handhabung und Wafer-Mapping-Funktionen. Dektak XT-Tool verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) für einfache Bedienung und Automatisierung. Es umfasst auch erweiterte Datenverarbeitungs-, Grafik- und Berichtsfunktionen auf dem PC. Die PC-basierte Software ist einfach zu bedienen und bietet umfassende Analysefunktionen, einschließlich der Analyse von Beulen, Partikeln und Beschichtungen. Darüber hinaus bietet DEKTAKXT mit seiner ANOVA-, FFT-, 3D-Plot- und Vibrationskompensationstechnologie ein breites Spektrum an Messfähigkeiten. Die ANOVA-Technologie kann zur Analyse von Waferkantenprofilen verwendet werden, während die FFT-Technologie zur Analyse von Spektraldaten verwendet wird. 3D-Plot-Technologie wird bei der Beurteilung der Waferform verwendet, und die Vibrationskompensationstechnologie ermöglicht genaue Messungen, auch wenn der Wafer vibriert. Die Anlage ist ideal für eine breite Palette von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen, wie Belastungstests, Fehleranalysen und Prozesskontrollen. BRUKER-AXS Dektak XT eignet sich auch für die Qualitätskontrolle und den Einsatz in Forschung und Entwicklung. Abschließend ist BRUKER-AXS DEKTAKXT ein fortschrittliches Wafertest- und Metrologiemodell, das für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Das Gerät nutzt innovative Technologien und verfügt über eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche mit einer breiten Palette fortschrittlicher Mess-, Analyse- und Verarbeitungsfunktionen.