Gebraucht BRUKER-AXS Dektak XT #9237895 zu verkaufen

BRUKER-AXS Dektak XT ist eine hochpräzise Mehrzweck-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die sowohl die Topographie als auch das Profil einer Vielzahl von Oberflächen, einschließlich Halbleiterscheiben und Leiterplatten, misst. Dieses Wafer-Test- und Messsystem ist mit einem hochauflösenden, rauscharmen Confocal Raman-Bildverarbeitungsmodul ausgestattet, das in der Lage ist, eine breite Palette von Proben in Bezug auf Zusammensetzung, kristallographische Orientierung und Dickenverteilung zu analysieren. Das Mikroskop verfügt über eine automatisierte Z-axiale Fokussiereinheit zur Erfassung topographischer Bilder von Proben mit einer Auflösung von bis zu 5nm. Darüber hinaus unterstützt es eine ganze Reihe von Probenpositionierungsvorrichtungen, einschließlich motorisierter x-y-z-Stufen und Drehstufen, die Flexibilität und Genauigkeit für eine genaue Probensondierung bieten. BRUKER-AXS DEKTAKXT verfügt auch über eine Vielzahl von Oberflächenanalysetechnologien, wie Profil- und Schrittmessungen, Oberflächenrauhigkeitsmessungen, Spitzen-/Trogbestimmung, 3D-Profilbrechung und Monolayeranalyse. Es ist mit einer breiten Palette von Sonden ausgestattet, einschließlich einer nanomechanischen Sondenmaschine, einem Oberflächenprofilometer, einem optischen Profilometer, einer Atomkraftmikroskopie (AFM) zur Messung von Oberflächenkräften und einem Spektralreflektometer. Zusätzlich unterstützt es ein integriertes interferometrisches optisches Mikroskop zur berührungslosen Oberflächencharakterisierung, das eine Probenvergrößerung bis zum 200-fachen der tatsächlichen Größe und Submikron-Auflösung ermöglicht. Dektak XT bietet auch eine Vielzahl von Messfunktionen wie KE-Größenmessungen, kritische Maßbestimmungen, Linienbreitenmessungen, Mittellinienmessungen und Granularitäts-/Oberflächenmessungen. Darüber hinaus verfügt dieses Wafer-Test- und Metrologie-Tool über mehrere Softwarepakete wie die AnalYS-Software, mit der Sie sowohl 3D als auch 2D-Probenoberflächen, ein Ferntechnik-Steuerungspaket und eine Bibliothek mit Punktfiltern messen können. Insgesamt ist DEKTAKXT eine fortschrittliche und zuverlässige Anlage für Wafertests und Messtechnik, die es Forschern und Ingenieuren ermöglicht, die Topographie und das Profil einer Vielzahl von Oberflächen genau zu messen. Seine modernsten Technologien, kombiniert mit flexiblen Musterpositioniergeräten und spezialisierten Softwarepaketen, bieten höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit für alle Arten von Oberflächenanalysen.