Gebraucht BRUKER-AXS Dektak XT #9255110 zu verkaufen

BRUKER-AXS Dektak XT ist eine High-End-Ausrüstung für Wafertests und Messtechnik. Es ist auf einer großformatigen X-Y-Bühne aufgebaut, die für Wafer verschiedener Größen, Materialien und Dicken ausgelegt ist. Das System wird mit den modernsten Sensoren und einem schnelllaufenden X-Y Abtastung des Mechanismus ausgestattet, die hochgenaues Oblatenmaß ermöglichen. Das Gerät ist in der Lage, Oberflächenstrukturen, Rauhigkeiten und die Gesamtebenheit der Probe genau zu messen. BRUKER-AXS DEKTAKXT ist in der Lage, die Ebenheit der Probe über eine breite Palette von Schlüsseln, von 10 nm bis zu mehreren hundert Mikrometern, mit einer hohen Präzision genau zu messen. Dies macht die Maschine ideal für eine Vielzahl von Wafer-Prüf- und Messtechnik-Anwendungen, wie fortschrittliche Oberflächenanalyse, Wafer-Defekt-Inspektion und Oberflächenfehlererkennung. Das Tool verfügt auch über eine erweiterte Software-Suite, die eine schnelle und genaue Analyse von Waferdaten ermöglicht. Diese Software verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, die die Datenanalyse und -berichterstattung vereinfachen soll. Die Software bietet detaillierte Berichte und Datenzusammenfassungen, die das Asset ideal für die Analyse einer Vielzahl von Wafereigenschaften machen. Darüber hinaus ist das Modell mit einer Referenzebene nach Industriestandard ausgestattet, eine kritische Komponente, um genaue Ergebnisse für jede messtechnische Anwendung zu liefern. Die Referenzebene ermöglicht präzise Messungen der Waferstruktur in mehreren Achsen, was die Genauigkeit weiter erhöht. In Kombination mit den fortschrittlichen Funktionen von Dektak XT für Wafer-Tests und Messtechnik ist das Gerät eine ideale Lösung für eine breite Palette von Anwendungen für Wafer-Tests und Messtechnik. Seine robuste Konstruktion und hohe Genauigkeit machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine Vielzahl von Branchen, einschließlich Halbleiter, Nanotechnologie und grüne Energie. DEKTAKXT bietet eine effiziente, genaue und sichere Möglichkeit, eine Vielzahl von Waferfunktionen zu messen und zu analysieren.