Gebraucht BRUKER NANO DektakXT #293653435 zu verkaufen

BRUKER NANO DektakXT ist ein hochmodernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das für optimale Leistungen bei der Halbleiterherstellung ausgelegt ist. Es ist in der Lage, genaue und zuverlässige Messungen für eine Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen, wie Halbleiter-Prozesssteuerung und -analyse, Prozessentwicklung und Fehleranalyse. DektakXT enthält eine Onboard-CCD-Kamera und einen digitalen Signalprozessor (DSP) für hochauflösende optische Messungen. Mit diesen Komponenten ist BRUKER NANO DektakXT in der Lage, präzise, wiederholbare Messungen einer Vielzahl von Funktionen auf einer Waferoberfläche vorzunehmen. Es kann Linien, Gräben, Vias, Beulen und andere Merkmale mit einer fehlerfreien Genauigkeit von 0,1 µm (0,000004 ") messen. Die Messergebnisse werden in vier Modi gemessen: Segmentierung, Ranging, Bildgebung und Sondierung. Darüber hinaus ermöglichen die motorisierten XY-Stufen von DektakXT vollautomatisches Scannen und wiederholbare Messungen. BRUKER NANO DektakXT ist in das branchenübliche SmartScout Softwarepaket integriert. Die Software ermöglicht ein einfaches Wegdesign und optimiert Prozessparameter für mehr Ertrag und Kosteneffizienz. Darüber hinaus bietet es durch umfassende statistische Datenanalysen tiefe Einblicke in die Prozessperformance. Insgesamt ist DektakXT ein außerordentlich zuverlässiges Prüf- und Messsystem für Wafer. Der geräuscharme Betrieb und die hochauflösenden Messungen bieten eine zuverlässige Lösung für die Anforderungen der heutigen anspruchsvollen Halbleiterindustrie. Das System ist maximal effizient und ideal für eine präzise, kostengünstige Produktion und Prüfung. Mit der Onboard-CCD-Kamera und DSP bietet sie unvergleichliche Präzision und Genauigkeit. Darüber hinaus ermöglicht die SmartScout-Software die Optimierung von Prozessparametern und eine vertiefende Datenanalyse für eine verbesserte Performance.