Gebraucht BRUKER / SLOAN DEKTAK (Wafer-Prüfung und Messtechnik) zu verkaufen

Die von BRUKER/SLOAN DEKTAK angebotenen Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte sind in der Halbleiterindustrie hoch angesehen. Diese Systeme bieten umfassende Analyse- und Messlösungen für Oberflächenrauhigkeit und Foliendicke auf Wafern. Ein bemerkenswerter Vorteil von BRUKER/SLOAN DEKTAK Einheiten ist ihre hohe Präzision und Genauigkeit. Diese Maschinen nutzen fortschrittliche Technologien wie Stiftprofilometrie und Weißlicht-Interferometrie, um präzise Messungen auf der Waferoberfläche zu erfassen. Diese Genauigkeit gewährleistet zuverlässige Daten zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung. BRUKER/SLOAN DEKTAK bietet eine Reihe von Modellen für unterschiedliche Bedürfnisse. So ist der NT 3300 ein vielseitiges System, das berührungslose Messungen von Höhe, Rauheit und Foliendicke mit Sub-Nanometer-Auflösung ermöglicht. Die XT-Serie hingegen bietet fortschrittliche Profilometrie für dünne Filme, Schritthöhen und andere kritische Messungen. Das IIA-System wird für die Hochleistungsreihenoblateninspektion entworfen, Echtzeitanalyse für Produktionsumgebungen bietend. Diese Werkzeuge finden Anwendungen in verschiedenen Branchen, einschließlich Halbleiterherstellung, MEMS-Herstellung und Materialforschung. Sie bieten schnelle und genaue Messungen, die Unternehmen dabei unterstützen, ihre Prozesse zu optimieren, den Produktertrag zu verbessern und die Integrität ihrer Wafer sicherzustellen. BRUKER/SLOAN DEKTAKs Wafer-Test- und Messtechnik-Assets sind vertrauenswürdige Werkzeuge zur Qualitätskontrolle und Prozessoptimierung in der Halbleiterindustrie.