Gebraucht CAMECA Lexfab 300 #293759752 zu verkaufen

ID: 293759752
Shallow probe metrology system.
CAMECA Lexfab 300 ist eine High-End-Wafer-Prüf- und Messtechnik. Dieses System ist für die ultimative Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien während der Halbleiterherstellung, einschließlich dünner Filme, Schüttgutoberflächen und Nanostrukturen, konzipiert. CAMECA LEXFAB300 ermöglicht die schnelle und genaue Analyse von Wafern während des Herstellungsprozesses mit seiner fortschrittlichen Scanstufe. Das Gerät verfügt über ein hochauflösendes motorisiertes Objektiv und eine automatisierte Fotomaskenerkennung mit einer fortschrittlichen 3D-Kamera und leistungsstarker Optik. Dies ermöglicht eine erweiterte Ausrichtung und Auflösung über mehrere Standorte hinweg auf einem einzelnen Wafer. Die eingebaute Autofokus-Maschine ist zudem schnell und hochgenau, was zu hervorragenden Ergebnissen in Bildgebungs- und Scananwendungen führt. Die in LEXFAB-300 integrierte, ausgeklügelte Software ermöglicht eine genaue Messung der Dicke und Oberflächen des Wafermaterials. Es ermöglicht dem Benutzer auch, die bildgebenden Parameter entsprechend den Analyseanforderungen anzupassen. Das Tool unterstützt eine Vielzahl von Abbildungsmodi wie Röntgenstrahlen, Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Infrarotabsorption (IR), Raman und Rastersondenmikroskopie (SPM). CAMECA LEXFAB-300 ist eine zuverlässige Wafer-Test- und Messtechnik-Komponente mit vollautomatischem Betrieb und fortschrittlichen Funktionen, die die höchste Qualität der Datenanalyse gewährleisten. Es bietet eine breite Palette von Messfähigkeiten zur Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien im Halbleiterherstellungsprozess mit seinen automatisierten kombinierten Bildgebungs- und Analysefunktionen. Dank seiner robusten und zuverlässigen Konstruktion bietet es unvergleichliche Leistung und Effizienz in jedem Wafer-Prüf- und Messtechnik-Prozess.
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