Gebraucht CANDELA OSA 5100 #9206447 zu verkaufen

CANDELA OSA 5100 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine präzise Analyse und Charakterisierung von Halbleiterscheiben für kommerzielle oder Forschungsanwendungen ermöglicht. Dieses System ist mit einer Reihe von anspruchsvollen optischen und AFM (Atomkraftmikroskopie) Mikroskopen ausgestattet, die hochauflösende Bilder von mikroskopischen Merkmalen erstellen, subtile Veränderungen in Materialien erkennen und sogar atomare Details von der Substratoberfläche erfassen können. Ein leistungsstarker Controller, bestehend aus einer hochauflösenden Kameraeinheit und optischen Encodern, gibt dem Gerät die Möglichkeit, die Position, Drehung und Geschwindigkeit der Proben genau zu steuern und so Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten. Darüber hinaus ist die Maschine in der Lage, zahlreiche automatisierte Messungen und Analysen in einer Vielzahl von Anwendungen durchzuführen, einschließlich der Konstruktion und Auswertung integrierter Schaltungen, Oberflächentopographiemessungen, Oberflächenladungsanalysen, optische Tests, Dünnschichtanalysen, Röntgenanalysen und mehr. OSA 5100 ist mit einer offenen Architektur konzipiert, die eine schnelle und einfache Integration mit verschiedenen Komponenten und Softwarepaketen von Drittanbietern ermöglicht. Dieses Tool ist auch mit einer Reihe verschiedener Mikroskopsonden kompatibel, was eine noch größere Flexibilität in bildgebenden und Forschungsanwendungen ermöglicht. Es ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop, einem AFM-Mikroskop und einem Okular zur einfachen Betrachtung ausgestattet. Das Asset kann je nach Anwendung mit unterschiedlichen Auflösungs- und Wellenlängenbereichen verwendet werden und bietet eine Vielzahl von Möglichkeiten zur Untersuchung von Proben. CANDELA OSA 5100 beinhaltet ein erweitertes TI (Time Integrated) Imaging-Softwarepaket, das eine Echtzeitanalyse und Kontrolle von bildgebenden Aufgaben ermöglicht. Diese Software nutzt sowohl hochauflösende Bilder als auch AFM-Daten, um detaillierte Oberflächenkarten und topologische Eigenschaften zu erzeugen. Darüber hinaus kann diese Software zur Drift- und Hystereseüberwachung sowie zur Dimensionsmessung und optischen Kalibrierung eingesetzt werden. Darüber hinaus bietet OSA 5100 eine einfach zu bedienende Schnittstelle zur Steuerung von Umgebungen mit mehreren Benutzern. Dieses Modell ist äußerst effizient und stellt eine professionelle Wafer-Prüf- und Messtechnik an die Fingerspitzen des Benutzers. Die Kombination aus leistungsstarken Bildgebungsfunktionen, ausgefeilter Software und benutzerfreundlichen Schnittstellen unterscheidet CANDELA OSA 5100 von ähnlichen Produkten auf dem Markt. Ob für kommerzielle oder Forschungsanwendungen, OSA 5100 ist die ideale Wahl für die Präzisionscharakterisierung von Halbleiterscheiben.