Gebraucht CANON IUC Meter for MPA 500 #293626985 zu verkaufen

CANON IUC Meter für MPA 500 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um die Gesamtform und die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben mit Genauigkeit und Präzision zu messen. Es ist in der Lage, Wafer bis zum Nanometerspiegel abzubilden und verfügt über eine breite Palette von Merkmalen zur Messung von Defekten oder Anomalien. Das System ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop und einer konfokalen Lasermikroskopie (CLM) ausgestattet, um die einkristallinen Strukturen der Wafer abzubilden und zu analysieren. Das Mikroskop kann Facetten von Merkmalen erkennen und eine Vielzahl von Oberflächendetails analysieren, z. B. Firstkanten und ebene Oberflächen. Die Einheit kann auch für die elektrische Fehleranalyse verwendet werden, die die Messung von Strom-Spannungs (I-V) Kennlinien für den Wafer verwendet. Dies ermöglicht die Erkennung und Charakterisierung elektrischer Defekte aufgrund ihrer Fähigkeit, Parameter wie Durchbruchspannungen und Ladungseinspritzungen zu messen. Die MPA 500 verfügt zudem über eine integrierte Wafer-Foliendicke (WFT) -Maschine, die es ermöglicht, die Dicke der Isolierfolie auf dem Wafer zu messen. Das Lasererfassungs-WFT-Werkzeug verfügt über eine breite Palette von Messfähigkeiten, wie die Messung der Dicke in Bezug auf Nanometer, Mikrometer und Mils. Die Anlage wird auch mit einem Roboter-Wafer-Handling-Modell geliefert, das ein automatisiertes Be- und Entladen mehrerer Wafer in und aus der Ausrüstung ermöglicht. Das Robotersystem besteht aus zwei Förderbändern, die die Wafer von einer Station zur nächsten bewegen. Das Gerät verfügt über eine fortschrittliche Software namens HyTools-DW, eine automatisierte Datenerfassungs- und Analysesoftware für Wafertests und Messtechnik. Dies ermöglicht eine stärkere Kontrolle des Prüfprozesses sowie eine einfachere Erstellung von Messberichten. Schließlich enthält IUC Meter für MPA 500 eine Reihe von erweiterten Funktionen, wie Autofokus und automatische Planarisierung, die mehr Stabilität und Genauigkeit bei der Analyse des Wafers bieten. Die Maschine enthält außerdem ein ausführliches Handbuch, das einen umfassenden Überblick über die Merkmale und Funktionen des Werkzeugs gibt. Insgesamt ist CANON IUC Meter für MPA 500 ein fortschrittliches Gerät für Wafertests und Messtechnik, das hohe Genauigkeit und Präzision sowie eine Vielzahl innovativer Funktionen bietet. Mit seinem breiten Spektrum an Fähigkeiten und fortschrittlicher Software ist es ein wesentliches Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse jeder Art von Halbleiterscheibe.