Gebraucht CANON LSF 500 #38057 zu verkaufen

CANON LSF 500 ist eine innovative Wafer-Prüf- und Messtechnik, die fortschrittliche Laser-Scanning-Techniken und leistungsstarke Software verwendet, um Wafer-Tests und Messtechnik voranzubringen. Es ist ein hocheffizientes Mehrstationensystem mit der Fähigkeit, Wafermaße, elektrische Eigenschaften und Defekte zu messen. CANON LSF 500 ist für den Einsatz in einer serienreichen Produktionsumgebung konzipiert und kann in Produktionseinheiten wie Schleifer, Polierer, Abwasserreiniger und berührungslose Inspektionssysteme integriert werden, um eine umfassende Lösung zu bieten. Das Gerät kann bis zu 12 verschiedene Größen gleichzeitig messen, einschließlich Waferdicke, Oberflächenfehler, elektrische Eigenschaften, dielektrische Dicke und mehr. LSF 500 verwendet einen hochpräzisen Laserscanner und eine bildgebende Technologie, um genaue Wafermessungen zu gewährleisten. Die Maschine verfügt über die Fähigkeit, die X-, Y- und Z-Achsen des Wafers mit einer Genauigkeit von 5um (0,0002 Zoll) und mit extrem schnellen Messgeschwindigkeiten von bis zu 20 Wafern pro Sekunde zu messen. Das Werkzeug verfügt auch über hochpräzise, motorisierte Stufen für die Positionierung von Wafern sowie über eine hocheffiziente, automatisierte Zuführeinrichtung, die von 200 bis 600 Wafern gleichzeitig mit einer Ausrichtungsgenauigkeit von 7 bis 15 Mikrometern laden kann. LSF 500 verfügt auch über hochentwickelte Funktionen zur Fehlerkontrolle und Datenanalyse. Das Modell ist in der Lage, Fehler mit Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu erkennen und zu kategorisieren, und der Benutzer kann seine eigenen anpassbaren Fehlerkriterien einrichten, um sicherzustellen, dass nur die von ihm angegebenen Fehler erkannt und klassifiziert werden. Darüber hinaus kann das Gerät eine genaue statistische Analyse der mechanischen und elektrischen Eigenschaften des Wafers durchführen, sodass Benutzer eventuell vorhandene Anomalien schnell erkennen und identifizieren können. Insgesamt ist CANON LSF 500 ein effizientes und effektives Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das sich ideal für Serienumgebungen eignet. Es bietet hochgenaue Messungen, eine schnelle, automatisierte Zuführeinheit und leistungsstarke Fehlerkontroll- und Datenanalysefunktionen. Diese Eigenschaften machen es zu einer idealen Wahl für die schnelle und genaue Messung und Analyse der Leistung von Wafern.