Gebraucht CDE RESMAP 178 #293639677 zu verkaufen

CDE RESMAP 178 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät mit einer breiten Palette von Funktionen, die es ideal für Anwendungen in der Halbleiter-Wafer-Messtechnik und Prozessüberwachung machen. Seine leistungsstarken bildgebenden Funktionen ermöglichen eine genaue Messung der Wafer-Pegeleigenschaften und Parameter mit überlegenen Ergebnissen. Das System besteht aus einer 78-Kanal-Elektronenstrahl (EB) -Säule mit Sub-Nanometer-Auflösung. Gekoppelt ist dies mit einer hochauflösenden, hochempfindlichen CCD-Kamera, die in der Lage ist, auch subtile Veränderungen in der Oberfläche eines Halbleiterwafers zu erfassen. Dies macht es zu einem wirksamen Werkzeug zur Messung verschiedener Parameter wie Ätztiefe, geometrische Formen, Profileigenschaften, Muster- und Dotierungsmerkmale usw. Die Einheit verfügt auch über einen umfassenden Satz von messtechnischen Werkzeugen wie Konturabbildung, Kantenerkennung, Asterismusanalyse, SEM-Bildgebung und Parametrierung. Diese Werkzeuge wurden entwickelt, um selbst kleinste Oberflächenmerkmale zu erkennen und zu messen und Bediener bei der Identifizierung von Prozesstrends zu unterstützen. Neben den fortschrittlichen bildgebenden Funktionen bietet die Maschine auch eine Reihe benutzerfreundlicher Bedienelemente und Funktionen. Dazu gehören manuelle und automatisierte Steuerung von Messparametern, Unterstützung für eine breite Palette von Ausrichtungssystemen, mehrere Koordinatensysteme, anpassbare Anzeigeparameter und automatisierte Datenerfassung. Insgesamt bietet CDE RESMAP178 Wafer-Test- und Messtechnik-Tool eine leistungsfähige Plattform für Wafer-Prozessüberwachung und Fehleranalyse. Seine Konfigurationen auf Tiefenschärfe, halbautomatischer Bildvergleich und andere Funktionen machen es zu einer idealen Lösung für Halbleiterhersteller, die ihre messtechnischen Fähigkeiten auf Waferebene verbessern möchten.