Gebraucht CDE RESMAP 178 #293760286 zu verkaufen

CDE RESMAP 178 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die speziell für fortgeschrittene Halbleiterbauelementforschung entwickelt wurde. Es kombiniert ein fortschrittliches optisches Wafer-Messsystem mit einem speziellen Silizium-Wafer-Testaufbau. Das Gerät ermöglicht eine hervorragende Auflösung sowohl in der seitlichen als auch in der vertikalen Ebene bei seitlichen Auflösungen bis zu 1 μ m. Die Maschine ist mit einer CCD-Kameraeinheit ausgestattet, die gleichzeitige Messungen sowohl der oberen als auch der unteren Oberfläche eines Wafers mit einem einzigen Bild durchführen kann und einen sofortigen Vergleich von 2D-Oberflächenstrukturen in einer Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Das Werkzeug ist sehr anpassungsfähig und kann für Testmessungen an verschiedenen Proben verwendet werden, wie z. B. konstruierte Substrate, Substrate mit unterschiedlichen Materialien und mehrere Arten von Substraten mit mehreren Größen. Der Vermögenswert kann eine große Palette von Parametern messen, einschließlich nominale Filmdicke, Ablagerungsmusterdefinition, Oberflächenmorphologie, Gleichmäßigkeit, Koerzitivkraft, Widerstand, Abstimmbarkeit, Kapazität und Ermüdung. Es enthält auch integrierte Algorithmen wie Überwachung, Mittelung und Verfolgung, die die Analyse von Waferoberflächenprofilen erleichtern. Das Modell ist auch mit einer fortschrittlichen elektrostatischen Entladungsschutzausrüstung (ESD) ausgestattet, die einen überlegenen Schutz gegen Spannungsentladungsereignisse bietet, die bei tiefen Analysen, Tests und Messungen auftreten können. Darüber hinaus umfasst das ESD-Schutzsystem optoisolierte Ausgangskanäle und einen stationären Entladungsisolator (Steady-State Discharge Isolator, DSI) für den Personenschutz beim Experimentieren. Zur Verbesserung der Genauigkeit ist das Gerät mit fünf einstellbaren Lasersensoren ausgestattet, die sowohl an der Ober- als auch an der Unterseite eines Wafers präzise Messungen durchführen können. Es verwendet ein hochpräzises Laserinterferometer, das es ermöglicht, hochauflösende und hochpräzise Messungen über die gesamte Oberfläche eines Wafers durchzuführen. Darüber hinaus ist die Maschine einfach in bestehende Testaufbauten und andere Geräte des Anwenders integriert und bietet Flexibilität und einfache Einrichtung. Alles in allem ist CDE RESMAP178 Wafer-Test- und Messtechnik-Tool ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für die Forschung von fortgeschrittenen Halbleiterbauelementen. Es bietet hochpräzise Messungen über eine breite Palette von Mustertypen und kann leicht in bestehende Testaufbauten integriert werden, was es zu einem sehr anpassungsfähigen und anpassbaren Werkzeug macht.