Gebraucht CDE RESMAP 178 #293809836 zu verkaufen

CDE RESMAP 178 ist eine Hochleistungs-Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde für Anwendungen entwickelt, die extrem schnelle Messungen hochgenauer kritischer Abmessungen und topographiebezogener Parameter auf verschiedenen flachen und konturierten Strukturen mit mehreren Schichten erfordern. Das System nutzt Profilierung und diffuse Reflexionstechnologie, um äußerst zuverlässige messtechnische Ergebnisse zu liefern. CDE- RESMAP178-Einheit verfügt über eine proprietäre optische Plattform mit verbesserter Auflösung und Genauigkeit. Es verwendet eine 4x Reduktionsmaschine, die extrem präzise Messungen mit ausgezeichneter Wiederholbarkeit gewährleistet. Das Tool ist mit einem leistungsstarken automatisierten Alignment Asset (AAS) ausgestattet, das den Standort und die Orientierung der Probe zuverlässig bestimmt und es ermöglicht, die kompliziertesten Wafer noch schneller zu testen. Darüber hinaus ist das Modell mit einer Bibliothek von Referenzproben für einfache Validierung und Messungen von verschiedenen Arten von Materialien und Strukturen ausgestattet. Das Gerät kann für verschiedene Messungen wie x, y, z-Achse, reflektierte Laserintensität und kritische Abmessungen (CD) kalibriert werden. Das System kann auch mit einer integrierten computergesteuerten Wafer-In-Place-Messeinheit (WIPMS) angepasst werden, wodurch komplexe Wafer gleichzeitig gemessen werden können. Die fortschrittliche optische Konfiguration der RESMAP 178 Maschine ist perfekt in der Lage, Nanoeigenschaften, die mit hochwertigen Fokus- und Geschwindigkeitskorrektursystemen gemessen werden, genau zu messen. Darüber hinaus kann das Werkzeug kritische Seitenverhältnisse und Toleranzen von ultrapräzisen KEs wie Gräben, Stufen und Hohlräumen messen. Das Asset verfügt auch über eine erweiterte Benutzeroberfläche mit einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI) für die einfache Implementierung von benutzerdefinierten Messspezifikationen. Darüber hinaus ist es auch in der Lage, mehrere Systeme gleichzeitig zu steuern, was eine produktivere Art der Prüfung von Wafern ermöglicht. Kurz gesagt, ist RESMAP178 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Modell eine umfassende und vielseitige Lösung für schnelle, zuverlässige und genaue Tests verschiedener Arten von Materialien und Strukturen. Die fortschrittliche optische Plattform, das automatisierte Ausrichtsystem, die Bibliothek mit Referenzmustern und die grafische Benutzeroberfläche machen es zu einer idealen Wahl für alle Ihre Anforderungen an die Wafertests.