Gebraucht CDE RESMAP 178 #293814715 zu verkaufen

CDE RESMAP 178 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik der nächsten Generation, die speziell für zuverlässige und hochgenaue Messungen kritischer Abmessungen (CD) und Überlagerungen entwickelt wurde. Das System verfügt über eine fortschrittliche optische und zweidimensionale berührungslose Oberflächenbildfähigkeit und dient mit seiner mehrstufigen Kalibrierung und Ausrichtung als zentrales Messwerkzeug für moderne Halbleiteranwendungen. Hauptbestandteil der Einheit ist eine hochpräzise, computergesteuerte Waferstufe. Diese Bewegungssteuermaschine bietet eine präzise Bewegungssteuerung und Positionierung für Wechselwirkung und Winkelsteuerung. Einzigartige, patentierte laserinterferometrische Funktion ermöglicht eine genaue Spiegeleinstellung für Winkel- und Driftkorrekturen. Die U.V. Laserquelle liefert hohe Stabilität, Leistung und Genauigkeit. Der Mapping-Optikkopf besteht aus einer hochauflösenden CCD-Kamera, einem rotierenden Spiegel und einer Gradientenindex (GRIN) -Linse, die ein vergrößertes Höhe/Abstand-Profil der Topographie einer Probe über die x-y-Ebene bereitstellt. CDE RESMAP178 Wafer-Test und Messtechnik-Tool bietet zwei Messgeräte, eine X-Stylus-Sonde und ein Auto-Styluswich kann eine Vielzahl von Proben messen. Die X-Stiftsonde eignet sich besonders zur präzisen Messung kritischer Maße und Überlagerungsausrichtung. Der Auto-Stift ist für die Messung von Metall- und dielektrischen Schichten ausgelegt, die eine präzise Messung von dünnen Metalllinien ohne Kontaktfehler ermöglichen. Zusätzlich gibt es eine High-Precision Wafer- und Sample Mapping-Software, die in Verbindung mit einer Reihe von farbcodierten Wafer-Mapping-Tabellen arbeitet, um Scanergebnisse anzuzeigen. In Bezug auf die Datenverarbeitung bietet RESMAP 178 Asset die Möglichkeit der Echtzeit-Bilderfassung, -Nähte und Kantenerkennung. Bei der Datenformatkonvertierung kann der Benutzer Scan-Daten direkt in 3D-Darstellungen und Berichtsformate wie .csv, .txt und .xlsx übertragen. Statistikmodule stehen zur Grafikdatenanalyse und Anzeige zur Verfügung. Insgesamt ist RESMAP178 Wafer-Prüf- und Metrologiemodell eine zuverlässige und robuste Ausrüstung, die sich in einer Reihe von Anwendungen der Halbleiterindustrie bewährt hat. Das System ist sehr flexibel und benutzerfreundlich und bietet Echtzeit-Ergebnisse und Datenanalyse Unterstützung. Unter Nutzung der Eigenschaften des Geräts können Kunden einen maximalen Durchsatz des Prüfverfahrens sicherstellen und sicherstellen, dass die Leistung ihren gewünschten Präzisions- und Genauigkeitsanforderungen entspricht.