Gebraucht CDE RESMAP 178 #9185823 zu verkaufen

CDE RESMAP 178 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät für die fortschrittliche Halbleiterverarbeitung. Es verfügt über eine innovative Dual-Prober-Architektur, die eine gleichzeitige Prüfung und Inspektion von Vorder- und Rückseite-Halbleiteranschlüssen ermöglicht, wobei jeder Prober ein eigenes Positioniersystem zur präzisen Ausrichtung hat. CDE RESMAP178 enthält eine hochempfindliche, mehrachsige Inspektionsmöglichkeit, die Defekte bis zu einem Millionstel Millimeter erkennt. Das Gerät ist mit einem patentierten Knickstrahl-Kraft-Sensor ausgestattet, der es ermöglicht, feine Partikel oder andere Verunreinigungen auf dem Wafer zu erkennen. Es ist mit einer einzigen Kameraeinheit zur Optimierung der Bilderfassung ausgestattet und die Verwendung patentierter Drehgelenk- und Servomotoren sorgt für eine präzise Ausrichtung von Sondenspitzen mit Mustermerkmalen. RESMAP 178 bietet eine Vielzahl von Testmodi mit dynamischen und breitbandigen Antworten, mehrfrequenten Anregungsfunktionen mit schnellen Test-Scanraten. Das Gerät verfügt auch über einen leistungsstarken Kantenerkennungsalgorithmus und Bildverarbeitungsfähigkeit, die es ermöglicht, die Kante von Drähten, Abstandshalter und andere Funktionen genau zu messen. Darüber hinaus enthält es einen proprietären Feldmessungs-Kalibrieralgorithmus, der eine schnelle und genaue Kalibrierung ermöglicht. Die Maschine ist in der Lage, Ergebnisse schneller als andere ähnlich ausgestattete Test- und Inspektionssysteme zu generieren, was effizientere Testabläufe ermöglicht. RESMAP178 verfügt über eine Reihe von Steuerungsoptionen, einschließlich einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche für einfachen Zugriff auf alle Testparameter und die Möglichkeit, sich in automatisierte Testumgebungen zu integrieren. Es bietet auch eine breite Palette von Datenerfassungs-, Analyse- und Reporting-Funktionen, so dass Benutzer ihren Prozess-Verbesserungsaufwand maximieren können. Das Gerät ist für den Einsatz in rauen Umgebungen konzipiert, mit einem wetterfesten Gehäuse und HF/Vibrationsabschirmung. Insgesamt ist CDE RESMAP 178 ein fortschrittliches, hochempfindliches Wafertest- und Metrologiewerkzeug, das sich perfekt für den Einsatz in der fortschrittlichen Halbleiterverarbeitung eignet. Seine Dual-Probe-Architektur und seine einzigartigen Fähigkeiten machen es zum idealen Werkzeug, um die Waferleistung effizient und präzise zu messen und zu verifizieren.