Gebraucht CDE RESMAP 178 #9366696 zu verkaufen

CDE RESMAP 178 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um die strengen Anforderungen der Halbleiterindustrie zu erfüllen. Das System bietet eine Vielzahl von messtechnischen Werkzeugen, von einem einzigen integrierten Präzisionsmikroskop bis hin zu hochentwickelten Laserprofilometern, die Höhen-, Oberflächen- und Fehlerinformationen über eine gesamte Waferfläche messen können. CDE RESMAP178 wurde entwickelt, um den Durchsatz zu maximieren und selbst die kompliziertesten Details von Waferoberflächen zu erfassen. Das Gerät umfasst eine Vielzahl von Wafertests, Bildgebungs- und Mikroskopierwerkzeugen. Das integrierte, maßgeschneiderte Z-Linsenmikroskop ist in der Lage, hochauflösende Bilder bei x200-Vergrößerung der gesamten Waferoberfläche zu erfassen. Das Mikroskop ist mit optischen Filtern und Lasern ausgestattet, die eine Reihe von Funktionen bieten, wie Scannen über eine Vielzahl von Winkeln, Messen von Defekthöhe und -neigung und verschiedene Autofokus-Fähigkeiten. Darüber hinaus bietet die Maschine ein maßgeschneidertes Laserprofilometer und ein chromatisches Konfokalmikroskop. Das Laserprofilometer, das bis zu 800 Mal zoomen kann, ermöglicht es dem Bediener, Waferhöhen-, Oberflächen- und Fehlerinformationen zu messen, anzuzeigen und zu speichern. Das chromatische Konfokalmikroskop ist in der Lage, dreidimensionale Bilder von Defektstellen zu erfassen und wird auch zur Messung der Oberflächenrauhigkeit verwendet. Das Werkzeug ist weiter mit einem metallurgischen Fluidscanner ausgestattet, der Metallverunreinigungen und andere Defekte schnell und zuverlässig identifizieren kann. Darüber hinaus bietet die Anlage eine Vielzahl zusätzlicher leistungsstarker Mikroskopierwerkzeuge wie ein Rasterakustikmikroskop, ein Rasterionenmikroskop und Energy Dispersive Scans, mit denen der Benutzer eine Reihe von Eigenschaften wie Topologie und elektrische Eigenschaften messen und quantifizieren kann. Insgesamt ist RESMAP 178 ein wesentliches Werkzeug für Wafertests und Messtechnik. Neben einer Reihe von hochentwickelten Funktionen ist das Modell auf hohen Durchsatz, Flexibilität und Genauigkeit ausgelegt. Die Fähigkeit, schnell und zuverlässig eine umfassende Sicht auf die Waferoberfläche und andere Fehlerinformationen zu liefern, macht die Ausrüstung zu einer wertvollen Ressource für Halbleiterhersteller.