Gebraucht CDE RESMAP 273 #293751606 zu verkaufen

CDE RESMAP 273
ID: 293751606
Wafergröße: 12"
Mapping system, 12".
CDE RESMAP 273 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für Forscher, Universitäten und andere industrielle Umgebungen entwickelt wurde. Es bietet automatisierte Test-, Messtechnik- und Bildverarbeitungsfunktionen, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit verschiedener Halbleiterbauelementstudien zu verbessern. Die Hauptarbeitsplattform ist eine mehrschichtige optische Simulationsstufe (MOLS), die mit der Mapping-Software gekoppelt ist. Das MOLS enthält eine Reihe von Stufen, die eine präzise Positionierung des Geräts mit Mikron-Pegelgenauigkeit ermöglichen. Dieser Controller ermöglicht es dem Anwender, Geräte über die Waferoberfläche genau zu testen und feinauflösende Bilder mit hoher Genauigkeit zu erhalten. RESMAP 273 bietet auch eine Reihe weiterer Testoptionen, darunter elektrische Tests, Fotolumineszenz-Bildgebung, 3D-Elementaranalyse und vieles mehr. Elektrische Prüfung wird verwendet, um potenzielle kristalline Defekte zu identifizieren und umfasst Merkmale wie zerstörungsfreie Strom/Spannungsmessungen auf Wafer mit präziser Verzögerungssteuerung, Leckstromprüfung und Durchbruchmessung. Das Photolumineszenz-Abbildungssystem kann zur Untersuchung der Vorrichtung auf Defekte verwendet werden. Der 3D-Elementaranalysator ermöglicht es Anwendern, die chemische Zusammensetzung ihres Geräts mithilfe einer Kombination aus hochauflösender Bildgebung und energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) zu analysieren. CDE RESMAP 273 bietet auch Bildverarbeitungsfunktionen, mit denen Benutzer Geräteeigenschaften wie Linienbreiten, Auflösung, Funktionsgröße und andere Geräteeigenschaften identifizieren können. Diese Fähigkeiten ermöglichen es Forschern, detaillierte Charakterisierungsinformationen zu erhalten und ein besseres Verständnis ihres Geräts zu erlangen. Die RESMAP 273 wurde auch entwickelt, um überlegene Genauigkeit und Geschwindigkeit im Vergleich zu anderen Wafer-Prüfsystemen auf dem Markt zu bieten. Die Vielzahl integrierter Funktionen, wie automatisierte Wafer-Positionierung und schnelle Auslesegeschwindigkeiten, sorgen für höchste Genauigkeit und Konsistenz bei der Messung der Eigenschaften eines Geräts. Dieses Gerät wird ferner durch eine Reihe von Tutorials unterstützt, die es neuen Benutzern ermöglichen, den RESMAP schnell in den Griff zu bekommen und innerhalb kurzer Zeit genaue Ergebnisse zu erzielen. Insgesamt ist CDE RESMAP 273 eine äußerst vielseitige Maschine, die eine schnelle Analyse und präzise Ergebnisse bei der Messung von Materialien und Geräten gewährleistet. Dieses Tool bietet Forschern die Werkzeuge, die sie benötigen, um detaillierte Informationen zu erhalten und ein besseres Verständnis ihres Geräts zu erlangen.
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