Gebraucht CDE RESMAP 273 #293778134 zu verkaufen

CDE RESMAP 273 ist eine moderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Analyse und Bewertung elektronischer Materialien und Geräte entwickelt wurde. Das System führt mehrere Tests und Messungen an beliebig vielen Proben gleichzeitig durch. Es arbeitet mit Wafern mit einem Durchmesser von weniger als 8 Zoll und kann bis zu 32 nm testen. Das Gerät verwendet einen spezialisierten vierachsigen Werkzeughalter, der auf ein Paar Biegemagneten-Partikel-Strahl-Systeme montiert ist. Dieser Aufbau gewährleistet eine hohe Auflösung und Genauigkeit bei der Inspektion und Messung von Proben. Die Partikelstrahlsysteme beherbergen optische Komponenten wie Detektor, Linsen und Spiegel und können zur Durchführung von Röntgenfluoreszenz-, Beugungs- und Streustests verwendet werden. Die optischen Komponenten sind mit einer motorisierten Steuermaschine ausgestattet, die es dem Bediener ermöglicht, Instrumentenparameter wie Laserleistung und Strahlausrichtung leicht einzustellen. Darüber hinaus verfügt das motorisierte Werkzeug über eine Funktion, die es ermöglicht, die am häufigsten verwendeten Spotgrößenkorrekturen auszulassen. Die Anlage verfügt auch über eine Reihe von messtechnischen Operationswerkzeugen. Dazu gehören Eigenschaften für Nanometerscanning (bis zu 100nm Auflösung), Spektroskopie (zur Messung der optischen Absorption und mechanischen Beanspruchung) und Mikroskopbildgebung (zur Detektion topographischer Merkmale). Die Ergebnisse der Tests und messtechnischen Operationen können von der mitgelieferten Software analysiert werden. Diese Software bietet numerische und grafische Analysen sowie Datenexport-Funktionen, mit denen Benutzer ihre Proben weiter auswerten können. Es verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche mit einer einfachen Lernkurve, die sicherstellt, dass Benutzer schnell lernen und im Modellbetrieb kompetent werden können. Darüber hinaus ist die Ausrüstung für die meisten Labore leicht zugänglich, da sie eine minimale Wartung erfordert. Insgesamt ist RESMAP 273 ein fortschrittliches Wafertest- und Messtechniksystem, das für Forschungslabore entwickelt wurde. Seine Reihe von Präzisionsbedienungswerkzeugen und genauen Analysefähigkeiten machen es zum perfekten Werkzeug für die detaillierte Analyse und Auswertung von elektronischen Materialien und Geräten.