Gebraucht CDE Resmap 363 #9202949 zu verkaufen

CDE Resmap 363 ist eine robuste und zuverlässige Messtechnik, die berührungslose Wafertests und Messtechnik durchführt. Es verwendet fortschrittliche Optik und laserbasierte Inspektionstechniken, um Waferoberflächenmerkmale mit hoher Präzision genau zu messen und zu bewerten. Das System unterstützt eine breite Palette von Anwendungen, darunter Messungen kritischer Dimensionen (CD), Fehlerinspektionen, Overlay und Vollfeld-Einheitlichkeit der kritischen Dimensionen (CDU). Resmap 363 Laser-Scan-Plattform ist für den Einsatz mit deutlich kleineren Funktionen wie Nanometer und sogar Submikron-Größen konzipiert. Dies macht es zu einer idealen Lösung für Wafer-Tests und Messtechnik für modernste Halbleitertechnologien. Das Gerät kann sowohl mit optischen als auch mit laserbasierten Algorithmen zuverlässig mit hoher Präzision messen und ist mit fortschrittlichen Software-Motoren ausgestattet, die eine flexible und robuste Funktionseinstellung und statistische Analyse bieten. Es bietet auch Unterstützung für verschiedene Industriestandard-Ausgabeformate, so dass es leicht in andere Systeme und Datenverarbeitungsplattformen integrierbar. Die Maschine ist für einen hohen Durchsatz mit schnellem Probenhandling und schnellen Datenerfassungsgeschwindigkeiten ausgelegt. Es unterstützt auch einen hohen Durchsatz durch die Verwendung einer „Look-ahead“ -Funktion, die es dem Tool ermöglicht, Muster in den Daten zu identifizieren und vorherzusagen, bevor es tatsächlich gemessen wird. Darüber hinaus verfügt die CDE Resmap 363 über automatisierte Steuerungen wie Fehlerbilderkennung, datenbasierte Litho- und Alignment-Maps sowie automatisierte Funktionen zur Ausrichtung und Fokussierung über das gesamte Feld. Resmap 363 bietet eine breite Palette von Anwendungen und Funktionen und erreicht hohe Genauigkeit und schnelle Geschwindigkeit in Wafertests und Messtechnik. Seine fortschrittliche Optik und laserbasierten Technologien bieten überlegene Leistung, Effizienz und Zuverlässigkeit, und die breite Palette an Funktionen und automatisierten Funktionen machen es zu einer effektiven und zuverlässigen Lösung für Wafertests und Messtechnik.