Gebraucht CYBEROPTICS Cyberscan Vantage #9267763 zu verkaufen

CYBEROPTICS Cyberscan Vantage ist ein Wafer-Test- und Messtechnik-System, das entwickelt wurde, um branchenführende hohe Genauigkeit und schnelle Scanfähigkeit für Halbleiter-, MEMS, LED und mikrofluidische Geräteanwendungen bereitzustellen. Es bietet optimierte Lösungen, um eine präzise und effiziente Waferinspektion und Oberflächenmesstechnik in einem Werkzeug zu ermöglichen. Cyberscan Vantage nutzt eine proprietäre heterodyn Muster Scanning optische Messtechnologie, um Sub-Nanometer Genauigkeit und 2 µm bis 2 mm Messbereiche zu erreichen. Hochauflösende Kameras werden verwendet, um Bild- und Geometriedaten in Echtzeit zu erfassen, was eine automatische Auswahl von Funktionen, eine Szenenklassifizierung und eine Objektidentifikation aus verschiedenen Winkeln ermöglicht. Dies wird mit extrem schnellem Scannen kombiniert, was eine schnelle Ausrichtung und Messung der Wafer ermöglicht. CYBEROPTICS Cyberscan Vantage integriert eine Vielzahl fortschrittlicher Softwarefunktionen wie seine iCyber Scan-Engine-Software, die Echtzeit-Wafer-Charakterisierung und Fehlererkennung bietet. Dazu gehören Funktionen wie automatisierte Ausrichtung, Mustererkennung und Fehler-/Mustererkennung. Mit seinen fortschrittlichen Algorithmen können verschiedene Waferoberflächeneigenschaften genau gemessen und analysiert werden, was es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in der Automobil-, Industrie-, Medizin- und Unterhaltungselektronik macht. Cyberscan Vantage verfügt auch über eine automatisierte Messtechnik-Software-Suite zur Optimierung der Wafer-Messtechnik ohne zusätzliche Benutzerinteraktion. Dieses leistungsstarke Softwarepaket bietet einen hochgenauen und zuverlässigen Messprozess und eine breite Palette von Messfunktionen, einschließlich ISO/TC-184/SC-4 und SEMI/S2-073 konformer parametrischer Messungen. Es unterstützt eine Vielzahl beliebter Messprotokolle nach Industriestandard und vereinfacht die Integration in alle vorhandenen Halbleiterprozessabläufe. Insgesamt ist CYBEROPTICS Cyberscan Vantage ein leistungsfähiges Wafer-Test- und Messtechnik-System, das entwickelt wurde, um hochgenaue Ergebnisse schnell zu liefern. Es ist ideal für alle Arten von Geräteanwendungen auf Waferebene, von der Automobil-, Industrie-, Medizin- und Unterhaltungselektronik bis hin zu den neuesten 5G-Technologien. Mit seinem hochqualifizierten Softwarepaket kann es dazu beitragen, die moderne Waferbearbeitung effizienter zu gestalten.