Gebraucht DEKTAK 3ST #293644228 zu verkaufen

ID: 293644228
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1995
Surface profiler, 6" 1995 vintage.
DEKTAK 3ST Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung ist die weltweit zuverlässigste und genaueste Plattform zur Messung und Inspektion von Oberflächen. Dieses System ermöglicht ein schnelles und präzises Scannen von Wafern für die dreidimensionale Messtechnik mit einer Datengenauigkeit von bis zu 0,5 nm. Es ist mit einem robusten Design gebaut, das entwickelt wird, um andere Systeme auf dem Markt zu überdauern und zu übertreffen. Das Gerät ist mit einem 5-Achsen-Tastkopf ausgestattet, der eine dynamische Positionsgenauigkeit von bis zu 0,2 µm über einen 12mm-Bereich bietet. Dies wird verwendet, um Daten von jeder Oberfläche zu sammeln, die durch mehrere verschiedene Scanpunkte gesammelt wird. Jeder Abtastpunkt wird dann als Array von in der Maschine zur messtechnischen Analyse gespeicherten Datenpunkten dargestellt. Dieses Tool verfügt auch über eine intuitive Software, mit der Benutzer die Daten in Echtzeit anzeigen können, was zur Optimierung des Test- und Inspektionsprozesses beiträgt. Das Asset bietet Benutzern die Möglichkeit, mehrere verschiedene Parameter wie Flächenebene, Linienbreite/-abstand, Profil- und Schritthöhe zu messen. Diese Messungen werden dann verwendet, um über Fehler wie Kratzer, Partikel, Nadelöcher und zufällige Oberflächenfehler zu berichten. Benutzer sind auch in der Lage, erweiterte Oberflächenanalysen mit prominenten Fehlererkennungsalgorithmen wie Otsu und Deflaker Methoden durchzuführen. 3ST Wafertest- und Metrologiemodell ist ein vielseitiges Werkzeug zur Inspektion und Analyse einer Vielzahl von Waferoberflächen. Es liefert genaue, zuverlässige Daten in kurzer Zeit, wodurch Benutzer Fehler und andere Unregelmäßigkeiten schnell erkennen können. Diese Ausrüstung ist die perfekte Wahl für jeden Anwender, der die Oberflächeneigenschaften von Wafern mit Genauigkeit und Präzision messen möchte.
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