Gebraucht DEKTAK 3ST #293649566 zu verkaufen

DEKTAK 3ST ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung der dimensionalen, elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Gebaut von KLA-Tencor verwendet 3ST die Contact-Stylus-Technologie, um die Oberflächenstruktur von Wafern genau zu messen und sie vor Beschädigungen zu schützen. DEKTAK 3ST bietet durch seine fortschrittliche Stylus-Technologie beispiellose Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Seine lasergeführten Kontaktstiftsonden berühren die Waferoberfläche punktweise, um das Waferprofil genau zu messen. Die fortschrittlichen optischen Mechanismen im Stift reduzieren Schleudern beim Messen, bieten genaue Messungen und schützen den Wafer vor Beschädigungen. 3ST bietet eine detaillierte Analyse verschiedener Wafereigenschaften. Beispielsweise ist es in der Lage, messtechnische Merkmale wie Schritthöhen, Ebenheit und das Vorhandensein von unerwünschten Partikeln und Material zu messen. Zusätzlich misst es elektrische Eigenschaften wie Flächenwiderstand und Flächenwiderstand. Schließlich führt es mechanische Messungen durch, einschließlich Foliendicke und Junges Elastizitätsmodul. DEKTAK 3ST ist ein benutzerfreundliches System mit einer intuitiven grafischen Oberfläche und Tastaturen. Ein integrierter, hochauflösender Monitor zeigt die Messungen und Testergebnisse an, und ein benutzerdefinierter Alarm kann so eingestellt werden, dass er anzeigt, wann eine Anomalie erkannt wird. Darüber hinaus können Daten aus 3ST einfach über Ethernet- und FireWire-Verbindungen zur weiteren Analyse exportiert werden. DEKTAK 3ST ist eine äußerst zuverlässige Einheit; Es ist so konzipiert, dass seine Genauigkeit und Genauigkeit über lange Nutzungszeiträume erhalten bleibt und durch eine umfassende Garantie abgedeckt wird. 3ST ist auch sehr kostengünstig: Durch den Einsatz von Stylus-Technologie entfällt die Notwendigkeit teurer Ausrüstungsvermietungen und bietet Kosteneinsparungen aufgrund ihrer langfristigen Zuverlässigkeit. Zusammenfassend ist DEKTAK 3ST eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine zur Messung der dimensionalen, elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Mit fortschrittlicher lasergeführter Kontaktstift-Technologie ist es extrem genau und wiederholbar. Die benutzerfreundliche Oberfläche, die intuitive grafische Anzeige und die Exportfunktionen machen es zu einer guten Wahl für Halbleitertests und Messtechnik.