Gebraucht DEKTAK 3ST #9362301 zu verkaufen

DEKTAK 3ST ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung des renommierten Unternehmens Veeco, die es Kunden ermöglicht, die Effizienz und Qualität der Waferprozesse zu verbessern. 3ST ist eine hochmoderne Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die entwickelt wurde, um eine Reihe von 3D-Oberflächen mit hoher Genauigkeit bei hoher Geschwindigkeit zu messen und zu analysieren. DEKTAK 3ST bietet Funktionen wie mehrere Messkonfigurationen, die die gleichzeitige Messung verschiedener Arten von Probenformen sowie das Stichscannen für Oberflächen mit geringer Spekularität ermöglichen. Es verfügt zudem über ein ergonomisches und benutzerfreundliches Design mit einer Touchscreen-Benutzeroberfläche, die eine einfachere Navigation und intuitive Bedienung ermöglicht. 3ST verfügt über einen automatisierten Probenlader, der bis zu 30 Proben plus eine Probe gleichzeitig im Messkopf aufnehmen kann. Es verfügt außerdem über eine automatisierte Schutztechnik, die Fehlausrichtungen verhindert und Temperatur- und Vibrationsprobleme kompensiert. Das System hat eine hohe Geschwindigkeitsmessung von 0,0075 μ m. Echtzeit „Current Angle“ Displays ermöglichen es Kunden auch, Daten zu analysieren, wenn sie kommen. Dieses Tool bietet erweiterte Messfunktionen wie aperturelles Scannen und Echtzeit-Feedback zu Overlay, Ebenheit und Oberflächenstruktur. Es hat auch eine geräuscharme Messtechnik-Einheit, die genaue 1D-, 2D- und 3D-Messungen bei geringem Stromverbrauch ermöglicht. DEKTAK 3ST bietet auch Präzisionskontrolle Fähigkeit mit Auflösung bis zu 0,25 Mikrometer, und misst in fünf Achsen (x, y, z, fi und t) mit einem breiten Messbereich. 3ST ist eine vielseitige und genaue Prüf- und Messtechnik-Maschine, die Daten liefert, die für eine detaillierte Prozessoptimierung verwendet werden können. Es verwendet intelligente Algorithmen und modernste Technologien, um Kunden bei der Steigerung von Effizienz und Qualität zu unterstützen. DEKTAK 3ST optimiert auch die Produktqualität, senkt Kosten und erhöht die Zuverlässigkeit des Wafer-Herstellungsprozesses.