Gebraucht DNS / DAINIPPON Lambda Ace VM-2200 #293664930 zu verkaufen

DNS/DAINIPPON Lambda Ace VM-2200 ist ein Wafertest- und Messtechnik-System zur Messung und Analyse von Halbleitermaterialien und deren Implantationseigenschaften. Das VM-2200 ist mit einem Mehrzonen-Elektronenmikroskop und fortschrittlichen Bildgebungswerkzeugen ausgestattet, die es ermöglichen, die Dicke und Topographie der Halbleiterscheiben genau zu messen. Darüber hinaus ermöglicht diese Technologie es Benutzern, die elektrischen Eigenschaften des Materials genau zu bestimmen, Verunreinigungen und Partikel zu erkennen und die Dotierung des Wafers zu analysieren, um Unregelmäßigkeiten im Prozess zu identifizieren. Das VM-2200 ist mit einer ganzen Reihe präziser Messinstrumente mit einer Gesamtauflösung von 0,3 μ m ausgestattet, um eine detaillierte Analyse und Auswertung von Halbleiterbauelementen durchzuführen. Es wird von einem PC mit großer Kapazität angetrieben, der einen geringen Latenzabruf und eine hochwertige Grafikausgabe ermöglicht. Dieses System enthält auch eine Vielzahl optionaler Zubehörteile für kundenspezifische Testanwendungen wie Laserinterferometriesysteme, Rasterkapazitätsmikroskopiesysteme sowie optische Emissions- und Röntgenspektroskopiesysteme. Das VM-2200 wurde entwickelt, um den hohen Anforderungen der High-End-Halbleiterverarbeitung gerecht zu werden. Es ist in der Lage, konsistente und wiederholbare Waferanalyseergebnisse in jeder Umgebung zu produzieren, und seine automatisierte Analysefähigkeit reduziert das Risiko von Benutzerfehlern. Darüber hinaus ist seine benutzerfreundliche Software einfach zu bedienen und bietet eine breite Palette von Dienstprogrammen und Optionen. Das VM-2200 ist mit einer Vielzahl von zusätzlichen Funktionen ausgestattet, um die Wafertest- und messtechnische Leistung zu verbessern. Es kommt mit eingebauten Luftdämpfern Vibrationen zu reduzieren, sowie motorisierten Autofokus für erhöhte Genauigkeit und Auflösung. Die fortschrittlichen Signalverarbeitungsalgorithmen erlauben es, bis auf geringe Strahlendosen zu messen und sehr geringe Unterschiede in den Materialeigenschaften zu erkennen. Insgesamt ist das VM-2200 ein voll ausgestattetes Wafer-Test- und Messtechnik-System, das eine überlegene Genauigkeit und Auflösung für Labor- und Industrieanwendungen bietet. Die Kombination aus hochauflösender Visualisierung und automatisierten Analysefunktionen ermöglicht es Benutzern, Fehler und Unregelmäßigkeiten zu identifizieren und gleichzeitig sicherzustellen, dass jeder Wafer genaue und zuverlässige Ergebnisse liefert.