Gebraucht DNS / DAINIPPON Lambda Ace VM-2200 #293664934 zu verkaufen

DNS / DAINIPPON Lambda Ace VM-2200
ID: 293664934
Wafergröße: 4"
Film thickness measuring system, 4".
DNS/DAINIPPON Lambda Ace VM-2200 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die ultrapräzise Analyse von Wafern entwickelt wurde. Dieses System verfügt über eine hochpräzise hochauflösende Kamera und eine breite Palette von spezialisierten Objektiven, die die Inspektion von Wafern bis hin zu Mikron-Auflösung ermöglichen. Die eingebaute Ausrichteinheit ermöglicht eine schnelle und präzise Platzierung des Wafers, und das dedizierte CCD liefert Messungen sowohl der Wafergröße als auch der Dicke einzelner Wafer mit hoher Genauigkeit. Die Maschine verfügt auch über erweiterte Mess- und Analysefunktionen, einschließlich automatisierter Messsysteme, die Eigenschaften wie kritische Dimension (CD), Tonhöhe und Oberflächenprofil schnell und genau messen. Das Werkzeug kann auch eine breite Palette von 3D-Bildern der Wafer erzeugen, so dass eine detaillierte Analyse der Wafer-Merkmale und Eigenschaften. Die Integration spezialisierter Software macht die Ergebnisanalyse schneller und einfacher, während der innovative Einsatz von Lichtquellen die Präzision der Messergebnisse verbessert. Das Asset verfügt auch über fortschrittliche Software zum Kalibrieren und Verifizieren von Ergebnissen sowie zum Ausführen von Simulationen. Dies ermöglicht eine verbesserte Genauigkeit und die Fähigkeit, Fehler schnell zu erkennen. Es bietet flexible Speicheroptionen, so dass Benutzer Ergebnisse entweder auf einer externen Festplatte oder direkt auf dem internen Speicher speichern können. Darüber hinaus kann das Modell einfach mit anderen Systemen verbunden werden, wodurch große Datenmengen wie Bilder und messtechnische Ergebnisse leicht übertragen werden können. Insgesamt ist DNS Lambda Ace VM-2200 eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für eine leistungsstarke und präzise Waferanalyse entwickelt wurde. Die hochauflösende Kamera, spezialisierte Objektive und ein breites Spektrum an Mess- und Analysefunktionen ermöglichen eine schnelle und genaue Waferbewertung. Die fortschrittliche Software und die flexiblen Speicheroptionen bieten Anwendern eine umfassende Lösung zur Analyse und Speicherung von Ergebnissen. Dieses System wird jahrelange zuverlässige Leistung für diejenigen bieten, die Wafer-Tests und Messtechnik durchführen.
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