Gebraucht DNS / DAINIPPON LAW-815A #9051403 zu verkaufen

DNS/DAINIPPON LAW-815A ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiter-Wafer-Tests und -Analysen. Es wird zur zerstörungsfreien Fehleranalyse von bis zu 300mm Wafern verwendet. Es nutzt fortschrittliche Laseroptiken zur präzisen Detektion und Lokalisierung von fehlerhaften Transistoren, Drähten und anderen Komponenten auf dem Wafer. DNS LAW-815A System verfügt über eine Wafer-Inspektionsplattform mit einer ultrahochauflösenden Kamera für analytische Funktionen wie Fehleranalyse. Die Kamera ist mit einer Präzisionsmanipulationseinheit integriert, die es ermöglicht, sich genau zu fokussieren und auf bestimmte interessante Stellen auf der Oberfläche des Wafers zu zeigen. Das Gerät enthält auch einen dreistufigen Wafer-Fehlererkennungsalgorithmus. Die erste Stufe konzentriert sich auf die Erkennung von nicht gemusterten Defekten, die zweite Stufe sucht nach gemusterten Defekten und die dritte Stufe hilft bei der Klassifizierung der Art des Defekts. DAINIPPON LAW-815A verfügt auch über eine hohe Signalintelligenz (SIC), um Signaleigenschaften aus den Waferdaten zu identifizieren und zu berechnen. Dies ermöglicht eine detailliertere Fehleranalyse, wodurch die Gesamtausbeute des Waferprozesses verbessert wird. Darüber hinaus ermöglicht die Maschine auch die Messung von Prozessparametern wie Temperatur, Feuchtigkeit und Partikelkonzentration. LAW-815A ist in der Lage, mehr als 500 Arten von Defekten in jedem Wafer zu erkennen und zu analysieren. Es unterstützt auch eine Vielzahl von Testprotokollen, einschließlich 2D-Bildgebung, Röntgenbeugung, hochauflösende Mikroskopie und Atomkraftmikroskopie (AFM). Seine Präzision und Genauigkeit wird durch erweiterte Scan- und Zuordnungsfunktionen weiter verbessert. DNS/DAINIPPON LAW-815A ist eine zuverlässige und kostengünstige Testlösung. Es wurde entwickelt, um Serienproduktionslinien und große Waferprozesse zu unterstützen. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten und Präzision gewährleisten die genauesten und zuverlässigsten Messungen der Fehlererkennung und sind somit ein wesentlicher Bestandteil der Halbleiterindustrie.