Gebraucht DNS / DAINIPPON LAW-815A #9051404 zu verkaufen

DNS / DAINIPPON LAW-815A
ID: 9051404
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1993
RTA System, 6" 1993 vintage.
DNS/DAINIPPON LAW-815A ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung der Leistung und Eigenschaften von Dünnschicht-Halbleiterbauelementen. Dieses System wird in der Halbleiterherstellung eingesetzt, um die Qualität von Halbleiterbauelement-Prototypen vor ihrer Massenproduktion zu beurteilen. DNS- LAW-815A besteht aus einem Hauptkörper, einer Mikroskopstufe und einer Optikkartusche. Der Hauptkörper dient als Schaltzentrale des Geräts und beherbergt die CPU, die Software, das LCD-Touchpanel, das Laufwerk und die Stromversorgung. Die Mikroskopstufe ist für das Bewegen der Probe verantwortlich, während Bilder des zu prüfenden Geräts gewonnen werden. Schließlich enthält die Optikkartusche die Optik und die Detektoren, die notwendig sind, um Bilder der Probe zu erfassen und verschiedene optische Messtechniken durchzuführen. DAINIPPON LAW-815A ist in der Lage, eine Vielzahl von Tests wie Oberflächenanalyse, Submikron 3D-Profilmessungen, Tunnelübergangsmessungen, optische Mikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Atomkraftmikroskopie, Messungen der Dicke optischer Filme und Dunkelfeldbildgebung durchzuführen. Darüber hinaus ist diese Maschine in der Lage, automatisierte Messungen, um die Leistung der Geräte zu beurteilen, wie sie entwickelt werden. LAW-815A ist auch in der Lage, detaillierte Informationen über die elektrischen Eigenschaften von Dünnschicht-Halbleiterbauelementen bereitzustellen. Beispielsweise kann das Werkzeug den Widerstand, den Leckstrom und die Kapazität von Transistoren sowie die elektrische Leitfähigkeit und den Widerstand von dünnen Schichten genau messen. DNS/DAINIPPON LAW-815A ist ein leistungsfähiges und dennoch kompaktes Asset, das detaillierte Informationen über die Leistung und Eigenschaften von Dünnschicht-Halbleiterbauelementen bereitstellen kann. Mit seiner ausgeklügelten Software und fortschrittlichen Optik bietet dieses Gerät eine umfassende Analyse von Geräteprototypen, bevor sie serienmäßig hergestellt werden. Seine automatisierten Fähigkeiten ermöglichen eine schnelle und genaue Prüfung und machen es zu einem unschätzbaren Teil der Ausrüstung in der Halbleiterherstellung Industrie.
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