Gebraucht DNS / DAINIPPON / SCREEN WS-8200 #293634118 zu verkaufen

ID: 293634118
Weinlese: 1996
System 1996 vintage.
DNS/DAINIPPON/SCREEN WS-8200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur hochpräzisen Messung von Oberflächen- und Tiefeneigenschaften von Wafern. Das System ist in der Lage, eine Vielzahl von Parametern zu messen, einschließlich Dicke, Ebenheit, Oberflächentriangulation und Oberflächentextur. DNS WS-8200 ist in der Lage, mit hoher Geschwindigkeit zu arbeiten und liefert genaue Ergebnisse für Wafer bis 300 mm Größe. Die Einheit besteht aus mehreren Komponenten, einschließlich einer Hochgeschwindigkeits-automatisierten Stufe, die die Position des Wafers während der Messung genau beibehält. Die Bühne ist in der Lage, den Wafer aus der Kassette auf den optischen Kopf des Instruments zu extrahieren und zu positionieren sowie nach der Messung wieder in die Kassette zurückzuführen. Die Maschine ist außerdem mit einem hochgenauen Antriebswerkzeug ausgestattet, das die Position des Wafers während der Messung fein steuern kann. Die Anlage ist in der Lage, in einer Vielzahl von Scangeschwindigkeiten zu arbeiten, einschließlich Tiefenscannen, die die Oberflächenkontur mit hoher Genauigkeit misst. Darüber hinaus kann das Modell auch sowohl die Oberflächenstruktur als auch die Ebenheit messen. SCREEN WS-8200 verwendet sowohl optische als auch nicht-optische Messstrategien. Die optischen Messtechniken bestehen weitgehend aus Techniken wie Interferometrie, Mikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie, während die nichtoptischen Techniken piezoelektrische Wandler oder kapazitive berührungslose Sensoren zur Messung des Wafers verwenden. DAINIPPON WS-8200 ist mit einem hochpräzisen Controller ausgestattet und bietet mehrere Programmierfunktionen. Das Gerät verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche mit mehreren Anzeigemodi für die gemessenen Parameter, wodurch es einfach ist, die Ergebnisse zu überwachen und auszuwerten. WS-8200 umfasst auch mehrere Analysefunktionen, einschließlich der Fähigkeit, kleine Unterschiede im Oberflächenprofil mehrerer Wafer zu messen. Darüber hinaus umfasst das System ein Programm, das Oberflächenstruktur extrahieren und analysieren sowie Oberflächenebenheit messen kann. Insgesamt ist DNS/DAINIPPON/SCREEN WS-8200 eine fortschrittliche Wafertest- und Metrologieeinheit, die in kurzer Zeit genaue Ergebnisse liefert. Die Maschine eignet sich für Anwendungen in der Mikroelektronikindustrie und ist für den Einsatz in rauen industriellen Umgebungen konzipiert.
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