Gebraucht DNS / DAINIPPON STM-602A #293608963 zu verkaufen

DNS / DAINIPPON STM-602A
ID: 293608963
Film thickness tester.
DNS/DAINIPPON STM-602A ist eine kompakte und kostengünstige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die qualitätsgesteigerte Produktion moderner Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, eine breite Palette von Materialien und Substraten eingehend zu prüfen und zu analysieren, wodurch Prozessoptimierung und Ausbeute verbessert werden können. DNS STM-602A verfügt über außergewöhnliche Funktionen mit einem Gleichgewicht von Geschwindigkeit und Genauigkeit. Mit Hilfe der besten Algorithmen und Sensoren wird eine konkurrenzlose Hochgenauigkeitsmessung von Waferprofil, Verzug, Abschrägung, Schritthöhe, Mittelmessung usw. erreicht. Das Gerät erfüllt die neuesten Anforderungen der Halbleiterindustrie und liefert präzise Ergebnisse mit einer Messgenauigkeit von +/- 1 μ m. Es bietet auch einen Hochleistungsmusteranerkennungsalgorithmus für das automatisierte Maß dessen sterben, Schritthöhe, Schrägfläche und warpage, ohne manuelle Manipulation oder Anordnung vom Benutzer zu verlangen. DAINIPPON STM-602A bietet flexible Hardwarekonfigurationen für unterschiedliche Messvolumina und ist damit eine kostengünstige Option für die Groß- und Kleinserienfertigung. Die Maschine bietet eine intuitive, benutzerfreundliche Softwareschnittstelle für Setup und Datenanalyse. Konfigurierbare Algorithmusoptionen ermöglichen die Erfassung kleiner und großer Daten sowie die weitere Anpassung der Messbedingungen an die spezifischen Anforderungen einer Anwendung. Die zuverlässige und kostengünstige STM-602A bietet eine Reihe von Vorteilen, wie schnelle und genaue Wafertests, hohe Prozessoptimierung und -verbesserung, schnelle Mustererkennungsalgorithmen, flexible Hardwarekonfigurationen, intuitive Benutzeroberfläche und konfigurierbare Algorithmen. Darüber hinaus bietet es mit seiner robusten Bauweise maximale Betriebszeit und minimale Ausfallzeiten. DNS/DAINIPPON STM-602A ist eine nützliche Lösung für Qualitätskontrolle und Präzisionsmessanwendungen in der Halbleiterindustrie.
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