Gebraucht DNS / DAINIPPON VM-1210 #9142712 zu verkaufen

DNS / DAINIPPON VM-1210
ID: 9142712
Wafergröße: 4" -8"
Weinlese: 2013
Film thickness measurement system, 4" -8" 2013 vintage.
DNS/DAINIPPON VM-1210 ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik für effiziente Inline-Tests von Halbleiterscheiben. Das System nutzt fortschrittliche Automatisierungs- und Testtechnologien und bietet eine vollständige Prüfung der gesamten Waferoberfläche in einem Schritt. Die hohe Leistung von DNS VM-1210 ermöglicht eine umfassende Prüfung mehrerer Parameter, einschließlich Formgröße, Dicke, Oberflächentopographie, Leckstrom, Spannungskoeffizient, Migrationsgeschwindigkeit und Widerstand. Darüber hinaus verfügt das Gerät über automatisierte Sondierungs- und Indexierungsmöglichkeiten sowie eine Bordfehlerklassifizierung zur schnellen Sortierung fehlerhafter Werkzeuge. Die Maschine ist mit einer schnellen und einfach zu bedienenden Benutzeroberfläche gebaut. Dies ermöglicht es dem Anwender, Testparameter schnell und einfach mit minimalem Training zu definieren. Eine grafische Übersicht über den Wafer kann während des Tests angezeigt werden, wodurch Problembereiche einfach visualisiert und behoben werden können. DAINIPPON VM-1210 verfügt auch über einen leistungsstarken Fehlerlokalisierungsalgorithmus. Dieser Algorithmus ermöglicht es dem Tool, mögliche Probleme, die während des Tests auftreten können, schnell zu identifizieren. Das Asset bietet außerdem ausreichend Speicherkapazität für historische Datensätze, sodass Benutzer schnell auf vergangene Ergebnisse zugreifen können. Für zusätzlichen Komfort kann der Benutzer Testdaten einfach auf ein externes Medium wie eine SD-Karte drucken oder exportieren. Mehrsprachige Unterstützung und eine Vielzahl von Kommunikationsoptionen machen VM-1210 zu einer idealen Wahl für eine Reihe von Anwendungen. DNS/DAINIPPON VM-1210 ist ein hochentwickeltes Wafertest- und Metrologiemodell, das die neueste Technologie und die zuverlässigste verfügbare Prüfung bietet. Seine schnelle, benutzerfreundliche Oberfläche und umfassende Testoptionen machen es zu einem idealen Werkzeug für jeden Halbleiterherstellungsprozess.
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