Gebraucht DNS / DAINIPPON VM-2010 #9134045 zu verkaufen

DNS/DAINIPPON VM-2010 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die sowohl für die Messung als auch für die Messung und Analyse des Produktionsniveaus konzipiert ist. DNS VM-2010 umfasst zahlreiche Komponenten, darunter DAINIPPON VM 2010 Digital Metrology System (DMOS), die Optical Microscope Auto Unit (OMAS) und die Scanning Electron Microscope Unit (SEMU). DAINIPPON VM-2010 DMOS besteht aus einer Acculine fortschrittlichen optischen Messtechnik-Maschine, die entworfen ist, um eine Vielzahl von Messungen durchzuführen, wie Linienbreiten, Gateleiterhöhen und Seitenwandwinkel. Das OMAS ist ein hochauflösendes optisches Mikroskopwerkzeug mit automatisierter Bühnen- und Autofokusfähigkeit, das eine 3D-Bildgebung und -analyse ermöglicht. Die SEMU bietet Anwendern Live-Imaging und dynamische Imaging-Modi mit Auflösungen bis zu 1 nm. VM 2010 verfügt auch über eine Reihe anderer Funktionen, wie Fehlerüberprüfung und optische Fehlerisolierung. Die Fehlerüberprüfungsfunktion wird für die Wafer-Fehleranalyse verwendet, während die optische Fehlerisolierkapazität verwendet wird, um im Wafer befindliche Fehler genau zu isolieren. Darüber hinaus ermöglicht VM-2010 Messungen, mit denen Wafer-Ebenheit, Oberflächenrauhigkeit, Kontaktwiderstand, Gatebreite, Overlays und Bildkontrast ausgewertet werden können. DNS VM 2010 wurde entwickelt, um Anwendern effiziente und genaue Wafertests und Messtechnik während des Wafer-Herstellungsprozesses zu bieten. Durch die Verwendung von DNS/DAINIPPON VM 2010 sind Anwender in der Lage, mögliche Fehler innerhalb des Wafers schnell und effektiv zu identifizieren, so dass sie Korrekturmaßnahmen ergreifen können, ohne lange Verzögerungen beim Herstellungsprozess zu erleiden. Das Asset ist zudem sehr flexibel und ermöglicht kundenspezifische Einstellungen und Analysen über verschiedene Arten von Wafern und Prozessen hinweg. Insgesamt ist das DNHDNS/DAINIPPON VM-2010 ein leistungsstarkes und vielseitiges Wafertest- und Messtechnikmodell, das Anwendern eine schnelle und genaue Analyse über verschiedene Prozessarten und Wafer hinweg ermöglicht. Von den fortschrittlichen Messtechnikkomponenten bis hin zu seinen vielseitigen Analysefähigkeiten ist DNS VM-2010 ein hocheffektives Werkzeug für Wafertests und Messtechnik.