Gebraucht DNS / DAINIPPON VM-2010 #9374929 zu verkaufen

DNS / DAINIPPON VM-2010
ID: 9374929
Thickness measurement system.
DNS/DAINIPPON VM-2010 ist eine modernste Wafer-Prüf- und Messtechnik von DNS für erweiterte IC- und MEMS-Wafer-Tests und -Bewertungen. Das System ist in der Lage, sowohl automatisierte als auch manuelle Analysen für Wafertests und Messtechnik anzubieten, sodass Anwender die Waferbedingungen schnell beurteilen können, um Analysen durchzuführen und Informationen vorzubereiten. Es ist eine All-in-One-Plattform, die die aktuelle Musterbehandlung, Automatisierung, Bilderfassung und -analyse, Wafer- und Maskentest, Einheitenkalibrierung und vieles mehr integriert. Die Maschine benötigt Software, um mit den Hardwareschnittstellen zu kommunizieren und die Befehle zur Bearbeitung und Messung von Proben auszuführen. Die Embedded Software eignet sich perfekt für die Umsetzung der Aufgaben und ermöglicht dem Anwender eine zuverlässige, automatisierte, wiederholbare und programmierbare Steuerung, um höchste Genauigkeit zu erreichen. Das Tool besteht aus einem Großrechner mit integriertem Mikroskop, Wafer-Handlern, Messtechnik-Modulen, Objektivsteuerung, Probenstufe, Bildverarbeitungs-Hardware und Sondenkarten. Die integrierten Mikroskope sind mit hellen Feld- oder Dunkelfeld-Objektiven ausgestattet, so dass Benutzer die Muster auf dem Wafer klar identifizieren können. Dies hilft, Unregelmäßigkeiten auf den Wafern zu testen. Wafer-Handler sorgen für präzise Wafer-Handhabung und ermöglichen eine breite Palette von Musterpositionierungsfunktionen. Darüber hinaus können diese mit dem Metrologiemodul verknüpft werden, um die Eigenschaften der Proben schnell und genau zu messen. Diese Module sind kompatibel mit dem Spektrum möglicher Messtechniken wie Lasermikroskopie, Bildverarbeitung und verschiedenen Lithographieverfahren. Die spezialisierten Objektivsteuerungen ermöglichen es Anwendern, die Wafer genau zu bewerten. Bilder, die mit dem Objektivregler aufgenommen werden, sind hochgenau und ermöglichen es Benutzern, benachbarte Wafer ohne manuelle Bedienung auszuwerten. Neben der Hardware verfügt DNS VM-2010 auch über Software, die Anwendern bei der Beurteilung der Waferbedingungen und der Bewertung von Messunterschieden hilft. Die Software ist flexibel und kann für mehrere Zwecke wie Asset-Kalibrierung, Rezeptmanagement, Datenanalyse usw. verwendet werden. Dank seiner erweiterten Funktionen bietet DAINIPPON VM 2010 zuverlässige, wiederholbare und programmierbare Tests und Messtechnik für jeden Wafer. Als solches ist es die perfekte Lösung für Wafertests und -bewertungen. Es bietet auch eine große Genauigkeit und Steuerung der Probenhandhabung, so dass Benutzer die Waferbedingungen schnell beurteilen und Daten analysieren können.
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