Gebraucht DNS / DAINIPPON VM-8200 #9374928 zu verkaufen

DNS/DAINIPPON VM-8200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für kommerzielle IC- und MEMS-Fertigungen. Dieses System verfügt über eine breite Palette von messtechnischen und Testfunktionen, wie berührungslose Messung, Nanometerskala-Bildgebung, mehrdimensionale elektrische Prüfung und optische Inspektion. DNS- VM-8200 umfasst erweiterte optische Funktionen mit nahezu infrarotem, mehrwelliger und Polarisationsbildgebung. Diese bildgebenden Funktionen ermöglichen es DAINIPPON VM 8200, die größte Auswahl an Texturen, Morphologie und optischen Funktionen auf einer Vielzahl von Waferoberflächen mit hoher Genauigkeit zu erfassen. Darüber hinaus verfügt das Gerät über erweiterte elektrische Testfähigkeiten, die es ermöglichen, sowohl große als auch kleine Schaltungen zu testen und mehrere Strom- und Spannungsmessverfahren einzubeziehen. Diese elektrischen Prüffunktionen werden mit 3D-Spannungsabbildungen und Stromdichteabbildungen für eine Vielzahl von Anwendungen kombiniert. VM 8200 verfügt auch über berührungslose Overlay-Messung, die eine hochpräzise Musterausrichtung und Überlagerungsprüfung ermöglicht. Die Maschine kann Überlagerungsvarianten bis zu 8 nm messen und liefert ein 3D-Bild der Waferoberfläche zur vergleichenden Analyse. Darüber hinaus ermöglicht die Nanometer-Bildverarbeitungsfähigkeit von VM-8200 es Anwendern, detaillierte SEM-Bilder von unter 3 nm bis zu 50 µm sowohl in Querschnitts- als auch in Top-Down-Ansichten zu erfassen. Um maximale Genauigkeit und Wiederholbarkeit beim Testen zu gewährleisten, umfasst DAINIPPON VM-8200 spezielle Algorithmen und Prozesse zur Datenerfassung, -verarbeitung und -analyse. Darüber hinaus bietet das Tool einen Satz automatisierter Wafer-Identifikationsfunktionen, die helfen können, Wafer innerhalb eines Rahmens zu identifizieren und zu unterscheiden. Diese Wafer-Identifikationsmethode unterstützt Anwender bei schnelleren und genaueren Messungen ohne manuelle Eingabe. Insgesamt ist DNS/DAINIPPON VM 8200 ein All-in-One-Test- und Messtechnik-Asset für kommerzielle IC- und MEMS-Fabrikationen. Es ermöglicht eine hochgenaue 2D- und 3D-Bildgebung, elektrische Prüfung und berührungslose Overlay-Messung. Darüber hinaus liefern automatisierte Wafer-Identifikationsfunktionen und Prozessoptimierungsalgorithmen dem Anwender zuverlässige und genaue Ergebnisse.