Gebraucht E+H METROLOGY MX 203-6-33 #9360725 zu verkaufen

Die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-6-33 ist eine leistungsstarke und zuverlässige Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um hochpräzise Messungen und Analysen sowohl in Halbleiter- als auch in Spezialprozessanwendungen anzubieten. Das System verfügt über eine sechsachsige Roboterstufe, die eine schnelle und präzise Bewegung im Bereich von 1200 µm ermöglicht. Der Roboter ermöglicht das Scannen und Abbilden eines Wafers innerhalb von Minuten. Es verwendet eine geschlossene Servoeinheit, um seine Position während der Scans zu halten, und ist in der Lage, wiederholbare Multi-Die-Scans. MX 203-6-33 verfügt zudem über eine hochauflösende digitale Bildverarbeitungsmaschine. Das bildgebende Werkzeug ist in der Lage, Bilder von jedem Werkzeug mit bis zu 15 Megapixeln Auflösung zu erfassen. Das Digital Imaging Asset bietet zudem leistungsstarke Werkzeuge für die Bildanalyse. Dazu gehören Kontrast- und Kantenerkennung, Pixelintensitätsanalyse, Formerkennung und Mustererkennung. Neben der Bildgebung kann E + H METROLOGY MX 203-6-33 eine Vielzahl von Wafer-Charakterisierungsmessungen durchführen. Dazu gehören elektrische Parameter wie Widerstand, Kapazität und Leckage sowie physikalische Parameter wie Oberflächenprofilometrie und Inspektion. Das Modell ist in der Lage, auch kleine Defekte auf der Oberfläche des Wafers zu messen, bis zu einer Größe von 1 Mikron. MX 203-6-33 bietet auch eine Software-Suite zur Steuerung des Geräteverhaltens und Analyse der Messergebnisse. Mehrere erweiterte Funktionen sind enthalten, wie Multi-Site-Speicher, Fernbedienung und Trendanalyse. Die benutzerfreundliche Oberfläche des Systems macht es einfach, Messungen einzurichten und die Ergebnisse anzuzeigen, was es zu einer idealen Wahl für Forschungs- und Entwicklungslabore macht. Insgesamt ist die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-6-33 eine ausgezeichnete und zuverlässige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit. Es bietet eine breite Palette von Fähigkeiten, so dass es für eine Vielzahl von verschiedenen Aufgaben geeignet. Mit seinen robusten Funktionen und seiner Benutzerfreundlichkeit ist es eine ideale Wahl für jede Einrichtung, die ihre Wafer-Test- und Messtechnikfunktionen erhöhen möchte.