Gebraucht E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q #9227071 zu verkaufen
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ID: 9227071
Weinlese: 2007
Wafer geometry gauge
Size: 125 x 125 and 156 x 156
Thickness range: 200 µm to 600 µm
Accuracy: 1 µm
Resolution: 0.1 µm
Sensors embedded in radial pattern
Warp and Bow-BF (Does not include gravity correction)
2007 vintage.
Die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q ist eine moderne Ausrüstung, die präzise Messungen von Wafern für verschiedene Arten von Fertigungsanwendungen bietet. Dieses System ist mit einer multifunktionalen Plattform ausgestattet, die auf vielfältige Weise genutzt werden kann. Das Gerät wurde entwickelt, um die physikalischen Eigenschaften eines Wafers wie Dicke, Ebenheit, Krümmung, Rauheit und Neigung zu messen und zu analysieren. Das E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q ist mit einer Reihe verschiedener Technologien ausgestattet, die genaue und präzise Messungen ermöglichen. Zur Messung der Oberflächenkonturen des Wafers wird eine interferomatische Sensormaschine eingesetzt. Diese präzise Technologie ist auch in der Lage, winzige inkrementelle Veränderungen in der Oberfläche zu messen, um eine genaue Darstellung der Topographie des Wafers zu gewährleisten. Die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q verwendet auch ein spezialisiertes optisches Sondierungswerkzeug, das die Dicke eines Wafers mit unglaublicher Genauigkeit messen kann. Dieser Vermögenswert kann umfangreiche Daten über die physikalischen Eigenschaften des Wafers wie Dicke, Gleichmäßigkeit, Unebenheit, Krümmung und Neigung sammeln. Darüber hinaus kann auch ein Multifokus-Bildfenster verwendet werden, um Bilder des Wafers extrem detailliert zu erfassen. Das Modell ist auch mit einer Reihe automatisierter und softwarebasierter Funktionen ausgestattet, die den Test- und Messtechnik-Prozess erheblich vereinfachen. Das Gerät hat die Fähigkeit, mehrere Wafer in schneller Folge mit minimaler manueller Eingabe zu messen. Das Softwaresystem kann auch verwendet werden, um die resultierenden Daten zu speichern und automatisch nach vorgegebenen Parametern zu analysieren. Die E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q ist eine leistungsstarke Einheit, die präzise Ergebnisse garantieren kann. Seine Kombination aus fortschrittlichen Technologien und automatisierten Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für alle, die nach einer fortschrittlichen Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine suchen.
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