Gebraucht E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234108 zu verkaufen

Die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q ist eine leistungsstarke, automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die präzise Messungen liefert und gleichzeitig die Flexibilität bietet, um den anspruchsvollsten Anwendungen zu entsprechen. Im Zentrum des Systems steht eine fortschrittliche 8-kanalige, 37-kanalige integrierte Test- und Messtechnik-Station. Das Gerät bietet hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit durch eine zuverlässige, CCD-basierte optische Maschine. MX 204-8-37-Q bietet außergewöhnliche Wiederholbarkeit und verwendet schnelle Scan- und Prozesssteuerungsalgorithmen. Die Maschine kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Parametern wie kritische Dimension, Ebenheit und CD-Gleichmäßigkeit einer Vielzahl von Gerätestrukturen zu charakterisieren. Das Tool kann auch die Topologie fortgeschrittener Geräte effizient messen, was eine Prozessoptimierung und eine verbesserte Waferausbeute ermöglicht. Seine 50kHz Laserscanning bietet eine beispiellose Ebene der schnellen Verfolgung, mit einem außergewöhnlich breiten Dynamikbereich und sehr niedrigen Schussgeräuschen. Diese Ressource ist ideal für Anwendungen wie Rasterelektronenmikroskopie, AFM/SPM und Partikel-in-Zellen (PIC) Sekundärelektronenbildgebung. E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q verfügt auch über einen Multi-Mode-Betrieb, der mehrere Wafer-Prüf- und Messverfahren unterstützt (z.B. dynamische berührungslose Messung, Scannen und Bildgebung). Darüber hinaus bietet das Modell eine Reihe von Optionen zur Vereinfachung des Betriebs und bietet eine breite Palette von Funktionen, mit denen Benutzer die Geräte nach ihren Bedürfnissen konfigurieren können. Das System nutzt fortschrittliche Technologie, um höchste Effizienz, Genauigkeit, Präzision und Wiederholbarkeit zu bieten. MX 204-8-37-Q ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, mit der Benutzer das Gerät problemlos steuern können, ohne Fachwissen in der Maschinenprogrammierung zu benötigen. Es nutzt die LabVIEW-Software, um Anwendern ein hohes Maß an Flexibilität und Effizienz bei der Einrichtung des Tools zu bieten. Abschließend ist die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q eine automatisierte Wafer-Test- und Messtechnik-Komponente, die exzellente Präzision und Genauigkeit mit einem hohen Maß an Flexibilität bietet. Die 50kHz Laserscantechnologie, die dynamische berührungslose Erfassung und die bildgebenden Modi bieten eine effiziente und zuverlässige Messlösung. Die benutzerfreundliche Oberfläche und intuitive Software sorgen zudem für eine schnelle und einfache Einrichtung und Bedienung.