Gebraucht E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234109 zu verkaufen
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ID: 9234109
Weinlese: 2007
Wafer measurement system
Square / Pseudo-square: 125-156 mm
Gauge type: MX 204-8-25-q
Thickness range: 200 - 600 μm
Real: 180 - 600 μm
CE Marked
2007 vintage.
Das E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q ist eine vollautomatisierte und in sich geschlossene Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die schnelle Analyse von Wafern und anderen Substraten konzipiert ist. Dieses innovative System verwendet spezialisierte Hardware und Software, um Topographie, Dicke, Ätztiefe, elektrische Eigenschaften und andere Merkmale von Wafersubstraten mit unübertroffener Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. Das Gerät besteht aus einer mehrachsigen Portalmaschine, die eine Reihe von Messwerkzeugen unterstützt, die auf eine Vielzahl von Wafermaterialien und Anwendungen zugeschnitten sind. Druck- und temperaturgesteuerte Gasschränke bieten eine stabile und thermisch gesteuerte Prüfumgebung, die sicherstellt, dass die Genauigkeit und Wiederholbarkeit mehrerer Messungen durch Umweltbedingungen nicht beeinträchtigt wird. Das Tool kann automatische Merkmalserkennung (AFR) und andere erweiterte Messungen mit einer Reihe von Werkzeugen wie optischen Profilern, Interferometern und elektrischen Inspektionssystemen durchführen. AFR erkennt automatisch Änderungen in Oberflächenmerkmalen basierend auf digitaler Bildgebung und Algorithmen und kann mehr als 50 Parameter messen, einschließlich Oberflächenrauhigkeit, Ätztiefe, Dicke und verschiedene elektrische Eigenschaften. Das Softwarepaket ist in der Lage, den gesamten Messprozess von der Vormessung bis zur Nachbearbeitung und Berichterstattung zu bewältigen. Es kann automatisch Daten aus mehreren Tools erfassen, speichern und verarbeiten und die Daten analysieren, um Trends zu erkennen. Dies ermöglicht eine schnelle Identifizierung von Produktionsproblemen, wodurch eine langwierige manuelle Überprüfung und Analyse entfällt. Das ergonomische Design der Anlage und ihrer Software macht Setup, Betrieb und Wartung schnell und einfach. Das motorgetriebene Wafer-Handling-Modell ist auch in der Lage, schnelle Messungen an etwa 500 Wafern pro Stunde durchzuführen. Das E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q ist eine ideale Lösung für Halbleiterbauelementehersteller, die eine hochpräzise, wiederholbare Leistung für die Prüfung benötigen. Es ist auch kostengünstig, so dass es eine große Investition für jede Produktionsumgebung.
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