Gebraucht E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234111 zu verkaufen

Die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Bereitstellung von Messdaten mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit. Dieses System bietet fortschrittliche Lithographiefähigkeiten, mit denen präzise Ätztiefen und Abmessungen in einem schnellen und automatisierten Verfahren gemessen werden können. Die komplette Einheit besteht aus einer MX204 Configurable Wafer Charakterization Machine (CWC), einem integrierten Testbett, mehreren Automatisierungstechnologien und einer breiten Palette von Zubehör und Steckverbindern, die ein komplettes Messpaket bilden. Im Allgemeinen arbeitet das Werkzeug mit hohen Geschwindigkeiten und ist in der Lage, Proben in weniger als 12 Sekunden zu messen. Es ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop ausgestattet, das ein maximales Sichtfeld von 1,5um und eine Auflösung von 0,5um bietet. sowie ein integriertes Wafer-Handling-Gerät, mit dem Proben auch bei einer Temperatur von bis zu 40 Grad C analysiert werden können. Das optische Mikroskop ist in der Lage, die Flachheit des Wafers genau zu messen; Dicke und Fehlergröße, um Prozessparameter zu überwachen. Zusätzlich kann es Proben in Echtzeit abbilden und eine Echtzeitanzeige von bis zu 20 Bildern bereitstellen. Darüber hinaus sind die im Modell enthaltenen Automatisierungstechnologien in der Lage, einen vollautomatischen Inspektionsprozess bereitzustellen, der Fehler- und Ätztiefe/Dimensionsmessung umfasst. Darüber hinaus integriert das Gerät auch einen programmierbaren Logikcontroller (SPS) zur Anpassung an schnelle Umgebungsänderungen und eine serielle Verbindung zur Steuerung von Peripheriegeräten. Darüber hinaus unterstützt das System eine Vielzahl von Test- und Messtechnik-Rezepten, darunter automobile und optische Anforderungen. Darüber hinaus ist das Gerät sehr konfigurierbar, um die Anforderungen verschiedener Benutzer zu erfüllen. Es beinhaltet die E + H MAGSYS METROLOGY Software, eine leistungsstarke Plattform für effiziente Messtechnik und Fehlerklassifizierung, sowie eine Probing Machine für die Probeprüfung bei hohen Geschwindigkeiten. Diese Maschine ist auch mit einem umfangreichen Angebot an Messsystemen von Drittanbietern kompatibel, darunter Teradyne und UCK. Schließlich kann das Werkzeug über eine serielle Verbindung und eine Ethernet-Verbindung mit einem Computer verbunden werden. Das Gerät wird auch mit einer Vielzahl von Zubehör, wie einer Wafer Edge Detection Platform und einer Inspektionsplattform geliefert. Zusätzlich ist mit dem Modell auch ein Einrichtungs- und Servicepaket erhältlich, um eine schnelle Installation und Inbetriebnahme sowie Kalibrierung und Wartung zu erleichtern.