Gebraucht E+H METROLOGY MX608 #293659180 zu verkaufen

Die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX608 ist eine speziell für Wafer-Tests und Messtechnik entwickelte Einheit. Dieses Gerät verwendet eine direkte Bildgebungstechnik, bei der ein Laserstrahl den zu testenden Bereich beleuchtet. Das Bild wird dann von einer CCD-Kamera verarbeitet, so dass der Bediener die Ergebnisse analysieren kann. MX608 verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es ideal für die Wafer-Messtechnik machen. Es verfügt über eine hochauflösende Kamera und ein optisches Gerät, das genaue Messungen und Analysen ermöglicht. Die Einheit kann auch verschiedene Merkmale wie Dicke, Kette und Ebenheit messen. Darüber hinaus verfügt das Gerät über die Fähigkeit, die Oberflächengüte des Wafers sowie etwaige Defekte zu messen. E + H METROLOGY MX608 ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die Wafermesstechnik. Es verfügt über ein automatisiertes Erfassungs- und Analysesystem, mit dem Daten schnell analysiert und verarbeitet werden können. Das Gerät kann programmiert werden, um eine Vielzahl von Oberflächenqualitäten und Fehlern zu erkennen, zu messen und zu melden. Darüber hinaus verfügt das Gerät über die Möglichkeit, detaillierte Berichte zu erstellen, die eine umfassende Analyse des Wafers ermöglichen. MX608 hat auch die Fähigkeit, in einem Abstand oder in Kontakt zu messen. Dies bietet optimale Flexibilität und Genauigkeit bei der Analyse von Waferdaten. Darüber hinaus hat das Gerät auch die Möglichkeit, sich mit beliebigen externen Systemen zur weiteren Analyse und Datenverarbeitung zu verbinden. Das Gerät ist auch für maximale Effizienz und Produktivität ausgelegt. Es kann mit einer einfach zu bedienenden Touchscreen-Schnittstelle bedient werden, so dass die Bediener das Gerät schnell und genau einrichten und alle Verarbeitungsaufträge verwalten können. Eine erweiterte Automatisierungsmaschine ermöglicht eine weitere automatisierte oder Fernsteuerung von Aufträgen. Zusammenfassend ist die E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX608 eine leistungsstarke und effiziente Einheit, die speziell für Wafertests und Messtechnik entwickelt wurde. Es verfügt über eine breite Palette von Funktionen wie hochauflösende Optik, automatisierte Erfassung und Analyse, automatisiertes Job-Management und die Fähigkeit zur Schnittstelle mit externen Systemen. Darüber hinaus bietet es maximale Flexibilität und Effizienz bei der Messung von Wafern. Insgesamt ist dieses Gerät ein leistungsstarkes Werkzeug für jede Wafer-Messtechnik-Anwendung.