Gebraucht EM ETAMAX UniMAP #293674206 zu verkaufen
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ID: 293674206
Weinlese: 2013
Automatic reflectivity mapping system
With transformer for EU voltage, 230V
ULVAC Vacuum pump for robot
(14) Cassettes, 2"
(6) Cassettes, 4"
(6) Cassettes, 6"
X-Y Stage: AC Servo control
Cassette holder: 2"-6"
Operating cassette size: 2"-6"
Robot type: Auto loader
Flat zone finder
Z-Stage adjustment
Light source:
White LED: Reflectance measurement
LED Intensity monitoring: One sensor
Spectrometer:
3636 Pixels
Wavelength range: 420 nm, span: 380-800 nm
Hardware pixel resolution : 0.13 nm/pixel
Optic slit: 50 µm
USB Control
Filters and lens
Measurements:
Wafer surface uniformity
Reflectance by spectrometer
Calculated by maximum - minimum / Maximum + minimum
Calculated by standard deviation
Minimum and maximum value of reflectance
Data acquisition PC:
Operating system: Windows 7
LCD Monitor, 17
Sorting function:
PSS Uniformity / Reflectance mapping
Power supply: 220 V, 30 A, 3-Wires
CDA: 0.2 ~ 0.4 Mpa
2013 vintage.
EM ETAMAX UniMAP ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnikgerät, das eine umfassende Analyse und Charakterisierung von Halbleiterscheiben ermöglicht. Dieses System ist mit fortschrittlichen elektromagnetischen (EM) Testfunktionen ausgestattet und nutzt die neuesten Technologien, um präzise und zuverlässige Ergebnisse für Halbleiterherstellungsprozesse zu liefern. UniMAP-Einheit bietet eine breite Palette von Prüf- und Messtechnikfunktionen, die für die Sicherstellung der Qualität und Leistung von Halbleiterscheiben unerlässlich sind. Es ist in der Lage, verschiedene elektromagnetische Eigenschaften von Wafern zu messen, einschließlich Leitfähigkeit, Permittivität und Dielektrizitätskonstante. Diese Messungen sind entscheidend für die Auswertung der elektrischen und physikalischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien, die bei der Geräteherstellung verwendet werden. Eines der Hauptmerkmale von EM ETAMAX UniMAP Maschine ist seine hohe Messgenauigkeit und Empfindlichkeit. Das Tool verwendet fortschrittliche Sensortechnologie und Signalverarbeitungsalgorithmen, um präzise und zuverlässige Messungen auch in anspruchsvollen Halbleiterherstellungsumgebungen zu erzielen. Damit ist sichergestellt, dass Halbleiterhersteller den vom Asset erzeugten Daten für kritische Entscheidungsprozesse vertrauen können. Neben den elektromagnetischen Prüfmöglichkeiten bietet das UniMAP-Modell auch umfassende messtechnische Funktionen zur Charakterisierung von Wafereigenschaften. Das Gerät kann Topographieanalysen, Dickenmessungen und Fehlererkennung an Wafern mit hoher Präzision und Durchsatz durchführen. Dies hilft Halbleiterherstellern, Probleme mit den Wafern frühzeitig im Produktionsprozess zu erkennen und notwendige Anpassungen vorzunehmen, um Ertrag und Produktqualität zu verbessern. Ein weiterer wichtiger Aspekt des EM ETAMAX UniMAP Systems ist seine Vielseitigkeit und Flexibilität. Die Einheit ist für verschiedene Wafergrößen und Typen konzipiert, die häufig in der Halbleiterherstellung verwendet werden, so dass sie für eine breite Palette von Anwendungen geeignet ist. Ob Hersteller mit Silizium-Wafern, Verbundhalbleitern oder anderen Materialien arbeiten, UniMAP Maschine kann genaue und zuverlässige Daten für die Prozessoptimierung liefern. Darüber hinaus ist das EM ETAMAX UniMAP-Tool mit benutzerfreundlichen Softwareschnittstellen und intuitiven Bedienelementen ausgestattet, mit denen Anwender einfach Tests einrichten, Daten analysieren und Berichte erstellen können. Die Anlage unterstützt auch die Automatisierung und Integration mit anderen Fertigungsanlagen und strafft die Test- und Messtechnik-Prozesse für mehr Effizienz und Produktivität. Insgesamt ist das UniMAP-Modell ein leistungsstarkes Werkzeug für Halbleiterhersteller, die ihre Wafertest- und messtechnischen Fähigkeiten verbessern möchten. Mit seiner fortschrittlichen EM-Prüftechnologie, umfassenden Messtechnik-Funktionen und benutzerfreundlichem Design ermöglicht die Ausrüstung Herstellern eine höhere Qualitätskontrolle, Prozessoptimierung und Produktleistung in der Halbleiterproduktion.
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