Gebraucht FARO Gage #9007586 zu verkaufen

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ID: 9007586
Weinlese: 2011
Measurement arm revision 28.1, 4' List of items: Working volume 48” Accuracy 0.0007” with bluetooth connectivity Base plate Three magnets (bolt to base for a magnetic base not stock) 6mm probe Probe / base wrench Allen wrench Probe case Cam2 gage measurement software Heavy duty shipping case (blue hard plastic with dense foam inside and wheels for ease of movement) Laptop with Cam2 software installed Currently in stored in warehouse 2011 vintage.
FARO Gage ist ein hochpräzises, berührungsloses Wafer-Prüf- und Messtechnik-System. Es handelt sich um eine vollautomatische Maschine zur Messung und Analyse der physikalischen Eigenschaften von Wafern für die Halbleiter-, Luft- und Raumfahrt-, Automobil- und Medizinprodukteindustrie. Mit der von FARO patentierten Stylus Edge-Technologie erwirbt Gage genaue 3D-Messungen von Wafergeometrien wie Dicke, Radius, Tiefe, Neigung und Breite. Neben diesen Messungen hat es auch die Fähigkeit, eine Oberflächenprofil- und Oberflächenbearbeitungsanalyse durchzuführen. Dies geschieht mit Hilfe einer hochauflösenden Kamera und Software zur Bestimmung der Oberflächenrauhigkeit (Textur) des Wafers. FARO Gage hat einen dreidimensionalen Scanbereich von 350mm, eine vertikale Sondenauflösung von 50µm und eine Winkelauflösung von 0,02 °. Der Stift und die Sonde können die Probenphase im gesamten Arbeitsbereich von Gage verschieben, was eine präzise Datenerfassung ermöglicht. Das Gerät verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche und ein großes, gut lesbares Display, das detaillierte Informationen über die aus dem Wafer gesammelten Daten liefert. Darüber hinaus verfügt es über integrierte Sicherheitsfunktionen, um Benutzer während des Betriebs vor potenziellen Gefahren zu schützen. FARO Gage ist eine vielseitige, robuste und zuverlässige Maschine, die extrem genaue Daten schnell und effizient bereitstellen kann. Es ist die perfekte Wahl für jedes Unternehmen, das nach einem zuverlässigen und wiederholbaren System sucht, um die Eigenschaften von Wafern zu messen und zu analysieren.
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