Gebraucht FEI 300 #9386526 zu verkaufen

FEI 300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die von FEI Company, einem der weltweit führenden Innovatoren in der Elektronenmikroskopie und Lithographie, hergestellt wird. Dieses System ist die erstklassige Metrologie-Einheit des Unternehmens, die präzise Messungen sowohl der physikalischen als auch der elektrischen Eigenschaften von Waferproben auf Nanometerskalen ermöglicht. Die Maschine ist ausgestattet, um eine breite Palette von Prüfverfahren und analytischen Prozessen auf dielektrischen, halbleitenden und magnetischen Materialien durchzuführen. 300 bietet eine komplette Palette von Messtechniken, einschließlich hochauflösender elektrischer Messungen, physikalisch-chemischer Analyse von Proben, Scan- und Bildgebungsfähigkeiten und verschiedenen anderen Prozessen. Es verfügt über eine leistungsstarke 5-Achsen-Stufe, die die Probe innerhalb von 1 Nanometer Genauigkeit genau positionieren kann. Die Bühne verfügt auch über eine Neigungskompensation, die es ermöglicht, sich frei zu bewegen, ohne die Orientierung der Probe zu ändern. Das Werkzeug verfügt über eine breite Palette von bildgebenden Werkzeugen, wie optische Mikroskope, Elektronenmikroskope und Röntgenbeugungsmikroskope. Diese ermöglichen es Benutzern, die physikalische Struktur ihrer Proben sehr detailliert zu untersuchen. FEI 300 ist auch in der Lage, präzise topographische Karten der Oberfläche der Probe zu erzeugen, auch bei Nanometern. Zum Asset gehört auch eine leistungsstarke Software-Suite, mit der Benutzer ihre Proben detailliert analysieren können. Diese Suite enthält eine Reihe von Vorlagen und Assistenten, die es dem Benutzer ermöglichen, eine breite Palette von Parametern in ihren Proben genau zu messen, von Oberflächenrauhigkeit und Filmdicke bis zu elektrischen Eigenschaften. Die Software enthält außerdem eine umfangreiche Materialbibliothek, die es Anwendern ermöglicht, Muster zu vergleichen und zu kontrastieren und Ergebnisse zu vergleichen. 300 ist ein unglaublich leistungsfähiges Werkzeug, mit dem eine breite Palette von Materialien genau gemessen und analysiert werden kann. Die robuste Instrumentierung und die leistungsstarken Softwarefunktionen des Modells machen es zu einem wertvollen Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure, die Eigenschaften von Waferproben mit beispielloser Genauigkeit und Präzision zu messen und zu analysieren. Dies macht es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für jedes moderne Labor- oder Ingenieurarsenal.