Gebraucht FEI DA300 #293670288 zu verkaufen

ID: 293670288
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2010
Defect analyzer, 12" NG Scanning Electron Microscope column (SEM) Detectors: ETD, TLD, CDEM Sidewinder FIB Column: 20 nA BROOKS Front end FOUP Capacitance probe OXFORD 30 mm SDD EDS Plasma cleaner OMNIPROBE 200 Manipulator Gas injection system: Pt Operating system: Windows XP 2010 vintage.
FEI DA300 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die anspruchsvollsten Testszenarien entwickelt wurde. Das flexible System eignet sich ideal zum Testen dicker und dünner Wafer und ist in der Lage, eine Vielzahl von Aufgaben in einer Reihe von Halbleitertechnologien zu bewältigen. DA300 Einheit umfasst ein hochpräzises Interferometer und eine Schutzkammer sowie mehrere Waferteststufen für verschiedene Wafergrößen und Konfigurationen. Das Interferometer, das zur Messung von Oberflächenebenheit und Höhenunterschieden ausgelegt ist, arbeitet unter einer geschlossenen Maschine, die eine schnellere Berechnung ermöglicht. Darüber hinaus sorgt ein dediziertes High-End-Bewegungssteuerungswerkzeug für überlegene Genauigkeit und feine Rückverfolgbarkeit und ermöglicht Präzision bei der Prüfung. Optisch nutzt das Asset ein Abbildungsmodell mit 4-Zoll-MIMO-Apertur und einem voll programmierbaren kontinuierlichen mechanischen Scan-Modus. Das Gerät verfügt auch über fortschrittliche Software mit einer Reihe fortschrittlicher Algorithmen für zweidimensionale und dreidimensionale Wafertests. Darüber hinaus ist das System auch in der Lage, eine Reihe optionaler Wiegefunktionen zu handhaben, die schnellere Inspektionen sowie schwerere Arbeitslasten ermöglichen. FEI DA300 ist intuitiv und einfach zu bedienen und bietet klare Frühwarnzeichen für mögliche Probleme. Es verfügt auch über eine integrierte Steuereinheit mit Farb-Touch-Bildschirmen, die es Benutzern ermöglichen, schnell auf die am häufigsten verwendeten Parameter auf Knopfdruck zuzugreifen. Die Maschine bietet auch On-the-Fly-Messungen und automatisierte Berichtsgenerierungsfunktionen, die einen effizienteren Workflow ermöglichen. Insgesamt ist DA300 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das für eine Vielzahl von Aufgaben entwickelt wurde, von Präzisionsflächenebenheit und Höhenmessungen bis hin zu automatischen Messungen am Flugzeug. Das Asset ist auch für die schnelle und genaue Ausführung hoher Arbeitslasten optimiert, während die Software eine breite Palette von erweiterten Funktionen bietet, mit denen Benutzer das Beste aus dem Modell herausholen können.
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