Gebraucht FILMETRICS F10-ARc #293792259 zu verkaufen

FILMETRICS F10-ARc ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik aus der Familie der Wafer-Messtechnik. Dieses System ermöglicht eine schnelle und genaue Qualitätskontrolle für Halbleiterscheiben. F10-ARc verfügt über eine automatisierte Waferstufe, die Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 4 Zoll aufnehmen kann. Es verfügt über einen hochauflösenden True-Color-CCD-Befehl, der eine helle Bildgebung mit klaren Materialdetails sowie einen motorisierten Z-Fokus bietet. Dies ermöglicht pixelgenaue Messungen und Analysen über eine breite Palette von Materialien. FILMETRICS F10-ARc verfügt über ein leistungsfähiges Softwarepaket, das eine effiziente Datenverarbeitung und Analyse von Wafereigenschaften ermöglicht. Die Software enthält eine umfassende Datenbank mit Hunderten von Waferparametern, die für die schnelle Qualitätskontrolle verwendet werden können. F10-ARc ist für die Prüfung einer breiten Palette von Eigenschaften wie Ebenheit, Rauheit, Stress, Absorption, Substratfarbe, Dotierungsstufen und Widerstand konzipiert. Es ist auch in der Lage, viele chemische und mechanische Eigenschaften zu analysieren, wie Konzentration von Dotierstoffen, Diffusionswerte, Filmdicke und Staubpartikel auf Düsen- und Waferebene. FILMETRICS F10-ARc umfasst eine Ladestation, die das Be- und Entladen von Wafern und Matrizen sowie das automatische Wafer-Handling für den Ferntransfer ermöglicht. F10-ARc verwendet ein erweitertes Softwarepaket, das mehrere Sprachen unterstützt und eine intuitive Benutzeroberfläche bietet. Dies ermöglicht es Benutzern, das Gerät zu überwachen und zu steuern, während Echtzeit-Leistungsbewertungen empfangen werden. Die Software umfasst umfassende Datenprotokollierungsfunktionen, so dass Daten bequem auf Wechselmedien gespeichert werden können. FILMETRICS F10-ARc ist eine zuverlässige und vielseitige Maschine, die eine genaue Qualitätskontrolle für eine breite Palette von automatisierten und manuellen Wafer-Testanwendungen bietet. Seine automatisierte Wafer-Handhabung, erweiterte Bildgebung und leistungsstarke Software-Paket machen es ideal für die Prüfung der Palette von Wafer-Eigenschaften.