Gebraucht FILMETRICS F20-UVX #293646420 zu verkaufen

ID: 293646420
Thickness measurement system PC.
FILMETRICS F20-UVX ist eine hochpräzise automatisierte Ausrüstung, die für Präzisionstests und Messtechnik zur Charakterisierung von Dünnschichtproben auf Wafern oder Substraten entwickelt wurde. Es kann optische Eigenschaften wie Reflexion, Transmission, Absorption und Brechungsindizes vom UV bis zu den längeren Wellenlängen wie denen des sichtbaren Lichtspektrums messen. F20-UVX umfasst eine vollständige Palette automatisierter Test- und Messtechnikfunktionen, wie eine Roboterindexierungsstufe mit hochpräziser Musterpositionierung und automatisiertes Wafer-Mapping. Es verfügt auch über mehrere optische Konfigurationsoptionen, einschließlich Breit- und Schmalstrahlmessungen, Push-Besen-Array-Beleuchtung und MTF-MapperTM-Streumessungen, sowie erweiterte Programmierbarkeit Funktionen, um automatisierte Prozesssteuerung und Präzisionsdatenerfassung zu erleichtern. FILMETRICS F20-UVX umfasst eine hochauflösende XYZ-Portalstufe, die in der Lage ist, den Wafer mikropositionieren zu können, um die Messgenauigkeit der Proben im Submikron-Maßstab zu ermöglichen. Es schließt auch ein einheitliches Hochleistungsbreitfeldbildaufbereitungssystem ein, das die verschiedene Leistung des optischen Eigentums über die komplette Oblate genau charakterisieren kann. Das Gerät ist in der Lage, schnelle transiente Phänomene zu erfassen und seine vielseitige Beleuchtungsausrüstung einschließlich LED, Breit- und Schmalstrahl-Beleuchtungsanlage kann flexibel konfiguriert werden, um verschiedene Testziele zu erfüllen. Es bietet auch eine direkte Verbindung zur automatisierten Dünnschichtdickenabbildungsmaschine, die eine vollständige Messtechnik ermöglicht. F20-UVX ist für den Desktop-Betrieb konzipiert und ermöglicht Benutzerfreundlichkeit und Wartung. Es ist sowohl für Labor- als auch Produktionsumgebungen konzipiert und kann mit den gängigsten Dünnschichtsystemen verbunden werden, was zu einer effizienten Datenerfassung und -berichterstattung führt. Es verfügt auch über einen automatisierten Berichtsgenerator, der die Zeit und den Aufwand zur Interpretation der Testergebnisse reduziert. Insgesamt ist FILMETRICS F20-UVX ein fortschrittliches Wafer-Test- und Metrologie-Tool mit automatisierten Funktionen und einer breiten Palette von Messfunktionen. Es eignet sich ideal zur Charakterisierung von Dünnschichtbeschichtungen auf Wafern und Substraten und liefert präzise und umfassende Daten für Prozesskontrolle und Forschungszwecke.
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